一种适用于全自动化双插座手测器制造技术

本发明专利技术适用于手测器技术领域，提供了一种适用于全自动化双插座手测器，包括：上插座和下插座，所述上插座与下插座之间通过转动轴活动连接；所述上插座包括上插座外壳以及设置于上插座外壳内侧的上测试组件，所述上插座外壳的顶部设有复位块和顶销一；所述下插座包括下插座外壳以及设置于下插座外壳内侧的下测试组件，所述下插座外壳的前侧活动连接有把手，所述把手上设有顶销二，所述上插座外壳上设有与把手相嵌合的凹槽，本发明专利技术通过设置上、下两个插座，可以对第一电路板和第二电路板同时对芯片进行测试导通，不仅提高了测试效率，而且避免了芯片的频繁挪动，能够有效防止芯片受损，安全性高，适用范围广。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及手测器，具体是一种适用于全自动化双插座手测器。

技术介绍

1、目前，由于被测芯片体积较小，测试时出于对成本的考虑，通常不使用昂贵设备进行测试，相关技术部门普遍采用的方法为：人为将芯片放置于导电的金属载具上，然后人工通过测试多组不同类型的插座对芯片进行不同温度、电压、电流下的测试，但是这样的检测方式需要接入各种导通线路，操作繁琐，不仅检测效率低下，而且容易使芯片位置发生偏移，导致芯片在测试过程中受损。

2、因此，针对以上现状，迫切需要提供一种适用于全自动化双插座手测器，以克服当前实际应用中的不足。

技术实现思路

1、本专利技术的目的在于提供一种适用于全自动化双插座手测器，旨在解决上述
技术介绍
中的问题。

2、本专利技术是这样实现的，一种适用于全自动化双插座手测器，包括：

3、上插座和下插座，所述上插座与下插座之间通过转动轴活动连接；

4、所述上插座包括上插座外壳以及设置于上插座外壳内侧的上测试组件，所述上插座外壳的顶部设有复位块和顶销一；

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【技术保护点】

1.一种适用于全自动化双插座手测器，包括上插座(1)和下插座(16)，其特征在于，所述上插座(1)与下插座(16)之间通过转动轴(15)活动连接；

2.根据权利要求1所述的适用于全自动化双插座手测器，其特征在于，所述上测试组件包括第一导向框(10)、测试针(27)、测试针挡板和第一电路板(12)，第一导向框(10)和测试针挡板安装于第一电路板(12)上，所述测试针(27)位于测试针挡板的测试区域内。

3.根据权利要求2所述的适用于全自动化双插座手测器，其特征在于，所述下测试组件包括第二电路板(18)，第二导向框(26)，所述第二导向框(26)和金属块(11)安装于...

【技术特征摘要】

1.一种适用于全自动化双插座手测器，包括上插座(1)和下插座(16)，其特征在于，所述上插座(1)与下插座(16)之间通过转动轴(15)活动连接；

2.根据权利要求1所述的适用于全自动化双插座手测器，其特征在于，所述上测试组件包括第一导向框(10)、测试针(27)、测试针挡板和第一电路板(12)，第一导向框(10)和测试针挡板安装于第一电路板(12)上，所述测试针(27)位于测试针挡板的测试区域内。

3.根据权利要求2所述的适用于全自动化双插座手测器，其特征在于，所述下测试组件包括第二电路板(18)，第二导向框(26)，所述第二导向框(26)和金属块(11)安装于第二电路板(18)上，所述第二导向框(26)内侧嵌入式粘接有密封圈(9)，所述密封圈(9)内侧设有金属块(11)。

4.根据权利要求1所述的适用于全自动化双插座手测器，其特征在于，所述把手(19)与下插座外壳(17)之间通过定位销二(23)和第二弹簧(25)连接。

5.根据权利要求1所述的适用于全自动化双插座手测器，其特征在于，所述下插...

【专利技术属性】
技术研发人员：郭峻岭，
申请(专利权)人：天津耐可斯新科技有限公司，
类型：发明
国别省市：