【技术实现步骤摘要】
本申请涉及集成电路验证，尤其涉及一种芯片验证方法、装置、电子设备及存储介质。
技术介绍
1、随着芯片复杂度的不断提升，如何进行芯片验证成为了芯片设计流程中至关重要的环节。目前，传统的芯片验证方法存在验证精度低、灵活性差以及复用性低等问题。
技术实现思路
1、本申请提供了一种芯片验证方法、装置、电子设备及存储介质，旨在于解决芯片验证存在的精度低、灵活性差以及复用性低的问题。
2、本申请的第一方面，提供了一种芯片验证方法，所述方法包括：
3、响应于目标验证请求，基于约束条件管理空间中的各个事务级约束条件，确定与所述目标验证请求对应的至少一个第一事务级约束条件，所述事务级约束条件用于使针对待测芯片的验证事务符合逻辑一致性的规则；
4、基于各个所述第一事务级约束条件，确定所述目标验证请求对应的各个约束变量的变量取值范围；
5、根据各个所述第一事务级约束条件和各个约束变量的变量取值范围构成的集合，构建目标约束池；
6、基于针对所述待测芯片的...
【技术保护点】
1.一种芯片验证方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于针对所述待测芯片的验证需求，从所述目标约束池中确定与所述验证需求对应的激励信号，包括：
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述验证需求包括所述待测芯片的待验证单元的功能正确性、时序要求、性能指标、边界条件和错误处理能力中至少一个维度的功能需求。
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述基于约束条件管理空间中的各个事务级约束条件，确定与所述目标验证请...
【技术特征摘要】
1.一种芯片验证方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于针对所述待测芯片的验证需求，从所述目标约束池中确定与所述验证需求对应的激励信号，包括：
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述验证需求包括所述待测芯片的待验证单元的功能正确性、时序要求、性能指标、边界条件和错误处理能力中至少一个维度的功能需求。
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述基于约束条件管理空间中的各个事务级约束条件，确定与所述目标验证请求对应的至少一个第一事务级约束条件之前，还包括：
6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述响应于目标验证请求，基于约束条件管理空间中的各个事务级约束条件，确定与所述目标验证请求对应的至少一个第一事务级约束条件，包括：
8.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
9.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
10.一种芯片验证装置，其特征在于，所述装置包括：
11.根据权利要求10所述的装置，其特征在于，所述约束条件确定模块，还用于获取历史芯片验证约束信息；根据所述历史芯片验证约束信息确定与芯片验证相关的各个事务级约束条件，所述事务级约束条件包括至少一个约束变量；基于所述各个事务级约束条件的各个约束变量和所述各个约束变量的变量取值范围，构建约束条件管理空间。
12.根据权利要求10所述的装置，其特征在于，所述激励信号确定模块，具体用于基于针对所述待测芯片的验证需求，从所述目标约束池中获取与所述验证需求相关的各个目标第一事务级约束条件；通过序列参数过滤与不满足所述验证需求中验证行为的目标第一事务级约束条件；根据剩余的各个所述目标...
【专利技术属性】
技术研发人员：马建宁，姚香君，孟阳，张世凯，许强，刘世伟，闫主，
申请(专利权)人：济南迈威智能科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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