【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种超声c扫描显微成像方法及系统，尤其是一种基于噪声波动优化的超声c扫描显微成像方法及系统。
技术介绍
1、超声显微成像技术作为一种非破坏性检测手段，在材料科学、生物医学等领域得到了广泛应用。c扫描成像技术通过采集样品内部不同深度的超声回波信号，能够实现对样品内部结构的二维或三维成像。然而，在实际应用中，超声回波信号容易受到噪声干扰，特别是在高频探头和高采样率条件下，噪声波动会显著降低图像的质量和分辨率。
2、传统的c扫描成像时，通常采用固定的滤波参数和简单的归一化处理，难以适应不同探头频率和采样率的变化，且对噪声波动的抑制效果有限。此外，现有方法在处理门限内信号时，往往忽略噪声波动对峰峰值的影响，导致灰度值计算不准确，从而会进一步影响成像质量。
技术实现思路
1、本专利技术的目的是克服现有技术中存在的不足，提供一种基于噪声波动优化的超声c扫描显微成像方法及系统，其优化噪声波动对超声成像的影响，提高超声c扫描成像的信噪比和分辨率。
2、按照本专利技术提...
【技术保护点】
1.一种基于噪声波动优化的超声C扫描显微成像方法，其特征是，所述超声C扫描显微成像方法包括：
2.根据权利要求1所述的基于噪声波动优化的超声C扫描显微成像方法，其特征是：执行信号滤波处理时，采用二阶巴特沃斯低通滤波器对物件超声回波信号进行滤波，其中，
3.根据权利要求2所述的基于噪声波动优化的超声C扫描显微成像方法，其特征是，对二阶巴特沃斯低通滤波器的截止频域，则有：
4.根据权利要求1所述的基于噪声波动优化的超声C扫描显微成像方法，其特征是，对构建的参数化逻辑回归函数，则有：
5.根据权利要求4所述的基于噪声波动优化的...
【技术特征摘要】
1.一种基于噪声波动优化的超声c扫描显微成像方法，其特征是，所述超声c扫描显微成像方法包括：
2.根据权利要求1所述的基于噪声波动优化的超声c扫描显微成像方法，其特征是：执行信号滤波处理时，采用二阶巴特沃斯低通滤波器对物件超声回波信号进行滤波，其中，
3.根据权利要求2所述的基于噪声波动优化的超声c扫描显微成像方法，其特征是，对二阶巴特沃斯低通滤波器的截止频域，则有：
4.根据权利要求1所述的基于噪声波动优化的超声c扫描显微成像方法，其特征是，对构建的参数化逻辑回归函数，则有：
5.根据权利要求4所述的基于噪声波动优化的超声c扫描显微成像方法，其特征是，基于基准物件的基准超声回波信号特征设置逻辑回归中心基值和逻辑回归中心斜率时，则有：
6.根据...
【专利技术属性】
技术研发人员：韩羽，邹明珣，沈景山，宋志威，
申请(专利权)人：山东墨氪智能科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。