【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于核电子学数字化脉冲处理,具体涉及一种基于堆积信号解调的脉冲通过率提升方法。
技术介绍
1、能量色散x射线荧光(edxrf)分析技术是一种基于x射线测量原理的核分析技术。目前,该技术广泛应用于环境样品测量和分析、月球土壤矿物成分探测、合金材料元素分析等领域。半导体探测器,如硅p型本征n型(si-pin)探测器和硅漂移探测器(sdd),因其卓越的能量分辨率、快速响应特性和优异的检测灵敏度而被用于edxrf测量。近年来,fast sdd是在sdd的基础上开发的,sdd具有更小的时间常数和更好的能量分辨率。
2、edxrf分析技术使用多通道脉冲幅度分析仪获得x射线能谱,并通过识别和分析特征x射线谱峰来确定样品中元素的类型和含量。因此,x射线能谱的采集过程是edxrf分析的基础,直接影响元素分析的准确性。过去,x射线能谱是通过模拟电路获得的,灵活性较差。值得注意的是,高速模数转换器(adc)和可编程逻辑器件的不断发展促进了信号处理方法的重大发展。其中数字技术逐渐取代传统的模拟电子技术作为主导方法。
3、国内学
...【技术保护点】
1.一种基于堆积信号解调的脉冲通过率提升方法,其特征在于,所述脉冲通过率提升方法包括如下步骤:
2.如权利要求1所述的基于堆积信号解调的脉冲通过率提升方法,其特征在于,探测器使用输出信号在不同计数率下波形变化较小的探测器。
3.如权利要求1所述的基于堆积信号解调的脉冲通过率提升方法,其特征在于,步骤S2中,预处理方法为:
4.如权利要求1所述的基于堆积信号解调的脉冲通过率提升方法,其特征在于,步骤S3中,筛选单脉冲信号的方法为:
【技术特征摘要】
1.一种基于堆积信号解调的脉冲通过率提升方法,其特征在于,所述脉冲通过率提升方法包括如下步骤:
2.如权利要求1所述的基于堆积信号解调的脉冲通过率提升方法,其特征在于,探测器使用输出信号在不同计数率下波形变化较小的探测器。...
【专利技术属性】
技术研发人员:李京伦,李文慧,赵玮,周倩倩,肖无云,崔辉,
申请(专利权)人:中国人民解放军军事科学院防化研究院,
类型:发明
国别省市:
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