【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及cos测试领域，具体涉及一种cos老化测试夹具和cos老化测试装置。
技术介绍
1、cos（chip on submount）是一种半导体封装技术，指将光电子芯片（如激光二极管ld、光电二极管pd）或其他微型器件通过高精度工艺贴装到专用基板（submount，也称为热沉）上，再进一步集成到模块或系统中。在半导体激光器领域常常采用cos对半导体激光器芯片进行封装。对于cos的老化测试通常是采用夹具将cos在老化测试装置中固定，对cos不间断地加电一定时间（如24小时或以上），通过监控激光器的出射光功率，来测试cos的老化（即失效）的耐受度。然而，现有技术中存在夹具结构复杂，cos定位操作不方便。并且传统的老化测试夹具是将电极设置为固定的，且两个电极的下端面处于同一水平面。在实践中，往往会出现cos两侧的热沉由于加工精度或者受到热应力变形导致的厚度不均匀的情况，导致一侧电极接触到一侧热沉，而另一侧电极未接触到或未充分接触到热沉，从而老化测试夹具对cos热沉两侧的压力不均匀导致通电故障。
技术实现思路
【技术保护点】
1.一种COS老化测试夹具，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的COS老化测试夹具，其特征在于:所述电极构件还包括转接构件；所述转接构件与所述支承构件对应的表面上设置有滑块；所述支承构件与所述转接构件对应的表面上设置有滑轨；所述滑块和所述滑轨滑动地接合，所述致动构件绕所述支承构件的枢转运动使得所述致动构件端部驱动所述转接构件上下运动，所述滑块能够沿着所述滑轨上下滑动。
3.根据权利要求2所述的COS老化测试夹具，其特征在于: 所述转接构件的上表面与所述支承构件的前端之间设置有致动弹性构件。
4.根据权利要求1所述的COS老化...
【技术特征摘要】
1.一种cos老化测试夹具，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的cos老化测试夹具，其特征在于:所述电极构件还包括转接构件；所述转接构件与所述支承构件对应的表面上设置有滑块；所述支承构件与所述转接构件对应的表面上设置有滑轨；所述滑块和所述滑轨滑动地接合，所述致动构件绕所述支承构件的枢转运动使得所述致动构件端部驱动所述转接构件上下运动，所述滑块能够沿着所述滑轨上下滑动。
3.根据权利要求2所述的cos老化测试夹具，其特征在于: 所述转接构件的上表面与所述支承构件的前端之间设置有致动弹性构件。
4.根据权利要求1所述的cos老化测试夹具，其特征在于:
5.根据权利要求4所述的cos老化测试夹具，其特征在于:
6.根据权利要求1所述的cos老化测试夹具，其特征在于:在所述夹具底座上表面还设置有2个限位片,所述限位片分别设置在所...
【专利技术属性】
技术研发人员：郭江涛，张红亮，孟亮，陈武辉，
申请(专利权)人：天津天成光电技术有限公司，
类型：发明
国别省市：
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