一种电容膜瑕疵检测系统及其检测方法技术方案

本发明专利技术涉及电容膜瑕疵检测技术领域。本发明专利技术公开了一种电容膜瑕疵检测系统，其包括中空玻璃容器，其上下层玻璃间密封夹层填充绝缘液体形成均匀层；一侧光源发射光束穿透液体层与电容膜，且光源控制器可调节输出强度；另一侧图像采集装置采集光信号；角度调节装置连接光源和图像采集装置以调节照射与采集角度；图像处理单元分析信号识别瑕疵。本发明专利技术通过绝缘液体光程差放大与双光束干涉技术，实现电容膜缺陷纳米级检测，突破传统光学检测瓶颈。多维度验证机制可精准区分不同类型缺陷，兼容多种材质电容膜检测。全流程自动化设计实现缺陷检测、定位与尺寸测量，为量产提供量化质量数据，助力企业降低废品率，提升电子元器件封装可靠性。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及电容膜瑕疵检测，尤其指一种电容膜瑕疵检测系统及其检测方法。

技术介绍

1、聚丙烯薄膜因其高透明度、优异的阻隔性及力学性能，成为制备高性能电容器的核心材料。随着电子信息、新能源等领域的迅猛发展，电容器向高频化、小型化方向演进，对电容膜的质量提出了更高要求。电容膜表面或内部的细微瑕疵会显著影响电容器的介电性能、耐压强度及使用寿命，甚至导致器件失效。据行业统计，电容膜的瑕疵检测精度直接关联到电容器成品的良品率，传统检测技术已难以满足纳米级缺陷检测的需求，亟需高精度、非接触的检测方案。

2、现有电容膜瑕疵检测技术主要存在以下局限性：其一，传统光学检测方法受限于透明介质的光散射特性，对纳米级瑕疵的信号捕捉能力不足，尤其当瑕疵尺寸小于光波长时，光学对比度低，易造成漏检；其二，接触式检测虽能获取表面轮廓信息，但会对超薄电容膜造成机械损伤，无法适配高速量产场景；其三，基于白光干涉的检测技术虽具备一定精度，但因缺乏光程差放大机制，对折射率相近的介质界面缺陷识别能力有限，且检测效率难以匹配生产线速度。

3、此外，涂覆导电层的聚丙烯电容膜存本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种电容膜瑕疵检测系统，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的一种电容膜瑕疵检测系统，其特征在于：

3.根据权利要求2所述的一种电容膜瑕疵检测系统，其特征在于：

4.根据权利要求1所述的一种电容膜瑕疵检测系统，其特征在于：

5.根据权利要求1所述的一种电容膜瑕疵检测系统，其特征在于：

6.根据权利要求1所述的一种电容膜瑕疵检测系统，其特征在于：

7.根据权利要求1所述的一种电容膜瑕疵检测系统，其特征在于：

8.一种电容膜瑕疵检测方法，使用如上述权利要求1-7中任一项所述的一种电容膜瑕疵检测系统，...

【技术特征摘要】

1.一种电容膜瑕疵检测系统，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的一种电容膜瑕疵检测系统，其特征在于：

3.根据权利要求2所述的一种电容膜瑕疵检测系统，其特征在于：

4.根据权利要求1所述的一种电容膜瑕疵检测系统，其特征在于：

5.根据权利要求1所述的一种电容膜瑕疵检测系统，其特征在于：

6.根据权利要求1所述的一种电容...

【专利技术属性】
技术研发人员：蒋生华，李健权，金超，蒋瑜慧，王建平，蒋秦峰，吴正，张彪，王亚亭，
申请(专利权)人：浙江华生科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：