一种基于OCT分光倍频方法及测量系统技术方案

本发明专利技术公开了一种基于OCT分光倍频方法及测量系统，涉及光学相干断层扫描技术领域，包括，通过光经光纤耦合器将光源发出的光束分为第一光路和第二光路，第一光路通过扫描检测部分光纤接口传输至准直镜组，经二维扫描部分，通过聚焦透镜对待测物体进行扫描；第二光路进入参考臂部件，依次通过偏振调节器、参考臂准直镜组后被参考臂反射镜组反射；第一光路和第二光路在光纤耦合器中发生干涉，生成干涉光后进入分光路探测部件。本发明专利技术通过分光元件将干涉光动态分配至多探测器通道，实现了光路的高效复用，通过分光、光开关切换和扫描分光三种模式，在主控卡的控制下灵活适配不同采样速率与分辨率需求。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及光学相干断层扫描，特别是一种基于oct分光倍频方法及测量系统。

技术介绍

1、光学相干断层扫描技术是一种非接触、高分辨率、高灵敏度的成像方法，基本原理是利用低相干干涉光源通过干涉成像方式对样品内部微观结构进行截面成像，在常规oct系统中，光源发出的低相干光通常通过光纤分束器划分为两个光路：一为样品臂光路，用于照射待测样品并收集反射信号，一为参考臂光路，用于与样品反射光形成干涉信号，为了提高图像分辨率与信噪比，现有oct系统中普遍引入准直镜、聚焦透镜、扫描镜组等光学部件构成二维扫描结构，增强图像获取的连续性与稳定性，随着对成像深度和精度要求的提升，基于光谱域和扫频域的变种技术也逐步发展。

2、传统的激光焊接领域多采用成像的方式对焊缝进行检测，该方案由于深度测量能力弱，分辨率不高对于分辨细微缺陷的能力比较差，且无法精准把握内部情况，数据准确性和重复性差，对焊接质量评估有着不小的影响。相较于传统方案，oct具有优势显著：实时成像检测，快速捕捉焊接过程动态变化；具备深度测量能力，能直接获取焊缝内部深度信息；数据准确性与重复性高，通过精确光本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种基于OCT分光倍频方法，其特征在于：包括，

2.如权利要求1所述的基于OCT分光倍频方法，其特征在于：信号处理主机(6)通过控制主控卡(7)向探测器1(33)、探测器2(34)和探测器3(35)的触发引脚发送相位差的T、n时序信号；

3.如权利要求2所述的基于OCT分光倍频方法，其特征在于：通过相位差的T、n时序信号控制探测器阵列的错时曝光，使探测器1(33)、探测器2(34)和探测器3(35)在时间域形成互补采样窗口，形成总采样频率的倍频提升。

4.如权利要求3所述的基于OCT分光倍频方法，其特征在于：信号处理主机(6)通过控制主控卡(7)对...

【技术特征摘要】

1.一种基于oct分光倍频方法，其特征在于：包括，

2.如权利要求1所述的基于oct分光倍频方法，其特征在于：信号处理主机(6)通过控制主控卡(7)向探测器1(33)、探测器2(34)和探测器3(35)的触发引脚发送相位差的t、n时序信号；

3.如权利要求2所述的基于oct分光倍频方法，其特征在于：通过相位差的t、n时序信号控制探测器阵列的错时曝光，使探测器1(33)、探测器2(34)和探测器3(35)在时间域形成互补采样窗口，形成总采样频率的倍频提升。

4.如权利要求3所述的基于oct分光倍频方法，其特征在于：信号处理主机(6)通过控制主控卡(7)对探测器1(33)、探测器2(34)和探测器3(35)执行时间戳同步对齐处理，将不同探测器的数据视为同一探测器采集的不同时刻的数据，执行光学参数差异补偿算法，校正分光路传输损耗，执行干涉信号拼接重构，生成完整轴向扫描信号。

5.一种基于oct分光倍频测量系统，基于权利要求1～4任一所述的基于oct分光倍频方法，其特征在于：包括，光源(1)、光纤耦合器(2)、信号处理主机(6)、参考臂部件、扫描检测...

【专利技术属性】
技术研发人员：熊乔洲，王紫毫，杨帆，
申请(专利权)人：深圳毅卓光学科技有限公司，
类型：发明
国别省市：