X射线散射校正方法、装置、锥形束计算机断层扫描系统和产品制造方法及图纸

技术编号:46476912 阅读:5 留言:0更新日期:2025-09-23 22:35
本发明专利技术实施例公开了一种X射线散射校正方法、装置、锥形束计算机断层扫描系统和产品,其中,方法包括:获取第一探测器的第一探测区域的第一投影信息和第二探测区域的第二投影信息;其中,第二探测区域为在X光机轴向两侧设置有准直器的情况下,第一探测器中准直器对应的遮挡区域;第一探测区域为第一探测器中除第二探测区域之外的区域;基于第二投影信息,生成与第一探测区域维度相同的第一散射校正模板;根据第一散射校正模板对第一投影信息进行散射校正,得到第三投影信息。本发明专利技术实施例的技术方案解决了散射校正效果不佳的问题,可以提高锥形束计算机断层扫描医学图像的质量和均匀性。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术实施例涉及医学影像,尤其涉及一种x射线散射校正方法、装置、锥形束计算机断层扫描系统和产品。


技术介绍

1、在偏置安装平板的锥形束计算机断层扫描系统(cone beam computedtomography,cbct)系统中,由于投影的区域有限,常用的散射校正方法效果不佳。尤其扫描对象体积越大,散射越多,对扫描得到的图像的均匀性影响越大。


技术实现思路

1、本专利技术实施例提供了一种x射线散射校正方法、装置、锥形束计算机断层扫描系统和产品,可以改善投影信息的散射校正的校正效果,从而提高锥形束计算机断层扫描医学图像的质量和均匀性。

2、第一方面,本专利技术实施例提供了一种x射线散射校正方法,该方法包括:

3、获取第一探测器的第一探测区域的第一投影信息和第二探测区域的第二投影信息;其中,第二探测区域为在x光机轴向两侧设置有准直器的情况下,第一探测器中准直器对应的遮挡区域;第一探测区域为第一探测器中除第二探测区域之外的区域;

4、基于第二投影信息,生成与第一探测区域维度相本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种X射线散射校正方法,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述基于所述第二投影信息生成第一散射校正模板,包括:

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述对所述第二投影信息中的第一子区域投影信息和第二子区域投影信息进行平均值计算,得到所述第二探测区域的平均投影信息,包括:

4.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,在得到所述平均投影信息后,所述方法还包括:

5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:

6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述第一散射校正模板对所述第...

【技术特征摘要】

1.一种x射线散射校正方法,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述基于所述第二投影信息生成第一散射校正模板,包括:

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述对所述第二投影信息中的第一子区域投影信息和第二子区域投影信息进行平均值计算,得到所述第二探测区域的平均投影信息,包括:

4.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,在得到所述平均投影信息后,所述方法还包括:

5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:

6.根据权利要求...

【专利技术属性】
技术研发人员:张蔚俞王新金慧君谢舒平
申请(专利权)人:平生医疗科技昆山有限公司
类型:发明
国别省市:

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