防散射栅的通光性能检测方法及装置和防散射栅分组方法制造方法及图纸

技术编号:46446141 阅读:6 留言:0更新日期:2025-09-19 20:47
本发明专利技术提供一种防散射栅的通光性能检测方法及装置,包括:获取各第一通光图像;于各第一通光图像中分别提取各第一栅体光通量,以获得最大第一栅体光通量;根据第一通光图像与第一步进位置的对应关系,获得最大第一栅体光通量对应的第一步进位置,以确定第一方向栅体焦点坐标;于所述第一方向栅体焦点坐标开始,沿第二方向逐步移动防散射栅,获得各第二通光图像;于各第二通光图像中分别提取各第二栅体光通量,以获得最大第二栅体光通量,作为防散射栅的绝对光通量。本发明专利技术的一种防散射栅的通光性能检测方法及装置,可直接获取防散射栅的绝对光通量等通光性能参数,有助于提高对防散射栅整体性能的检测准确性。

【技术实现步骤摘要】

本申请属于医疗设备,特别是涉及一种防散射栅的通光性能检测方法及装置和防散射栅分组方法


技术介绍

1、防散射栅通过吸收和过滤ct探测中x射线穿过被辐射物体的散射线,以确保仅有直射x射线到达探测器,进而提高被辐射物体的成像清晰度和对比度,优化ct系统的成像质量。

2、防散射栅作为ct系统中的关键组件,需要在出厂前进行性能评估,以确认其是否存在潜在问题,避免于实际应用中,因防散射栅的性能缺陷,降低ct系统的成像质量。现有技术中通常采用二维测量设备,来测量防散射栅的栅孔、栅壁以及表面质量等关键结构参数,通过计算关键结构参数的测量值与设计值之间的偏差,来评估防散射栅的性能。然而,该类现有技术只能检测防散射栅的机械结构尺寸,无法检测防散射栅的通光性能,而防散射栅的通光性能直接影响其对x射线散射和折射的抑制效果,对ct系统的成像质量具有重要影响,例如:x射线的散射和折射会增加ct影像中的背景噪声、降低图像对比度以及产生散射伪影等;因此,现有的基于二维测量设备的防散射栅性能检测方法,无法对防散射栅的整体性能进行检测,难以准确评估防散射栅于实际应用中的性能。<本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种防散射栅的通光性能检测方法,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,于获得所述最大第二栅体光通量后,所述方法还包括:

3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述最大第一栅体光通量和所述最大第二栅体光通量的获取方式,包括:

4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,还包括:

5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述聚焦性检测值的获取方式,包括:

6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,于获得所述第二通光图像后,所述方法还包括:

7.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,所述均匀...

【技术特征摘要】

1.一种防散射栅的通光性能检测方法,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,于获得所述最大第二栅体光通量后,所述方法还包括:

3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述最大第一栅体光通量和所述最大第二栅体光通量的获取方式,包括:

4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,还包括:

5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述聚焦性检测值的获取方式,包括:

6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,于获得所述第二通光图像后,所述方法还包括:

7.根据权利要...

【专利技术属性】
技术研发人员:陈大撞
申请(专利权)人:奕瑞电子科技集团股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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