【技术实现步骤摘要】
本技术涉及电子显微镜，具体地说是一种透射电子显微镜样品杆放置架。
技术介绍
1、透射电子显微镜（简称tem）可以看到在光学显微镜下无法看清的小于0.2um的细微结构，这些结构称为亚显微结构或超微结构，要想看清这些结构，就必须选择波长更短的光源，以提高显微镜的分辨率。透射电子显微镜以电子束为光源，电子束的波长要比可见光和紫外光短得多，并且电子束的波长与发射电子束的电压平方根成反比，也就是说电压越高波长越短，在使用透射电子显微镜时，需要将制好的样品薄片提前放置在铜网上，随后再将附着样品的铜网放置在样品杆端部的铜网槽内，在放置铜网的过程中，需要使用支架水平支撑样品杆，便于将样品转移至样品杆上；
2、现有的样品杆支架结构简单，功能单一，仅具有支撑的功能，不具有照明和收集废旧铜网的作用，且当铜网放置过程不慎掉落时，铜网上粘附的样品容易受到污染，无法重新使用，缺少样品防污的功能。
技术实现思路
1、为了解决上述现有技术中的不足，本技术的目的在于提供一种透射电子显微镜样品杆放置架，该透射电子...
【技术保护点】
1.一种透射电子显微镜样品杆放置架，其特征在于，包括底座（1），所述底座（1）上表面固定有两支撑板（2），两所述支撑板（2）顶端固定有顶板（3），所述顶板（3）顶部滑动配合有顶罩（5），所述顶罩（5）内侧壁固定有两组照明灯（11），且顶罩（5）上贯穿固定有观察筒（6），所述观察筒（6）内固定有放大镜（7）；
2.根据权利要求1所述的透射电子显微镜样品杆放置架，其特征在于，所述盛接板（8）一侧对应回收槽（9）和防污槽（10）的位置处均开设有取料口，所述取料口处滑动配合有滑动门（13）。
3.根据权利要求2所述的透射电子显微镜样品杆放置架，其特征在...
【技术特征摘要】
1.一种透射电子显微镜样品杆放置架，其特征在于，包括底座（1），所述底座（1）上表面固定有两支撑板（2），两所述支撑板（2）顶端固定有顶板（3），所述顶板（3）顶部滑动配合有顶罩（5），所述顶罩（5）内侧壁固定有两组照明灯（11），且顶罩（5）上贯穿固定有观察筒（6），所述观察筒（6）内固定有放大镜（7）；
2.根据权利要求1所述的透射电子显微镜样品杆放置架，其特征在于，所述盛接板（8）一侧对应回收槽（9）和防污槽（10）的位置处均开设有取料口，所述取料口处滑动配合有滑动门（13）。
3.根据权利要求2所述的透射电子显微镜样品杆放置架，其特征在于，所述底座（1）一侧设有抽屉（12），所述取料口两侧壁均开设有滑槽（15），所述滑动门（13）两侧均固定有滑块（14），所述滑块（14）滑动配合在滑槽（15）内。
4.根据权利要求1所述的透射电子显微镜样品杆放置架，其特征在于，所述顶板（3）上表面固定有两竖板（17），两所述竖板（17）之间固定有一组滑杆（18），所述顶罩（5）的一端部滑动套接在滑杆（1...
【专利技术属性】
技术研发人员：党浩然，
申请(专利权)人：山东大千检测有限公司，
类型：新型
国别省市：
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