一种转台角度位移量测量方法及位移传感器技术

技术编号:46348568 阅读:4 留言:0更新日期:2025-09-15 12:31
本发明专利技术公开了一种转台角度位移量测量方法及位移传感器,涉及转台角度位移量测量技术领域,包括如下步骤:在转台上设定特殊识别区域;从转台的正上方获取转台图像;对转台图像进行灰度化处理获取转台灰度图;基于第一数量个转台部分图像获取第一阈值、第二阈值以及第三阈值;基于第一阈值将转台灰度图转化为区域二值化图,基于第二阈值与第三阈值将转台灰度图转化为转台二值化图;基于区域二值化图获取第一参考点;基于转台二值化图获取第二参照点;基于第一参考点与第二参照点获取夹角变化值;基于夹角变化值获取角度位移量;本发明专利技术用于解决现有技术中现有的测量方法,导致测量过程繁琐、系统成本高及自动化程度低的问题。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及转台角度位移量测量,具体为一种转台角度位移量测量方法及位移传感器


技术介绍

1、转台是一种精密旋转运动平台,其核心功能是围绕一个固定的旋转轴进行精确的角度定位、连续旋转或分度运动,因此转台旋转的数据尤为重要,例如转台角度位移量测量是实现高精度运动控制、提高系统性能和确保安全的关键技术,因此需要对转台角度位移量测量;

2、现有的测量方法以旋转编码器测量与激光追踪仪测量为主,其中转编码器测量需要安装转台轴上的旋转编码器测量角度位移,因此对编码器的安装精度要求高,同时编码器容易受到电磁干扰,影响测量的稳定性;其中激光追踪仪测量需要复杂的光学系统和高精度的激光追踪仪,设备成本较高,同时对反射镜的安装精度要求高,反射镜的微小位移或倾斜会导致测量误差,测量过程中需要多次暂停转台以获取数据,效率较低;因此提出一种基于图像测量方法,图像测量方法无须精准安装和大量数据计算,同时不影响转台的正常运行,但是因此转台一般为对称外形,因对称外形旋转时难以区分,即现有技术中现有的测量方法,导致测量过程繁琐、系统成本高及自动化程度低。p>

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【技术保护点】

1.一种转台角度位移量测量方法,其特征在于,包括如下步骤:

2.根据权利要求1所述的一种转台角度位移量测量方法,其特征在于,在转台上设定特殊识别区域包括如下子步骤:

3.根据权利要求2所述的一种转台角度位移量测量方法,其特征在于,对转台图像进行灰度化处理获取转台灰度图还包括如下子步骤:

4.根据权利要求3所述的一种转台角度位移量测量方法,其特征在于,基于第一数量个转台部分图像获取第一阈值、第二阈值以及第三阈值还包括如下子步骤:

5.根据权利要求4所述的一种转台角度位移量测量方法,其特征在于,基于第一阈值将转台灰度图转化为区域二值化图,基于第...

【技术特征摘要】

1.一种转台角度位移量测量方法,其特征在于,包括如下步骤:

2.根据权利要求1所述的一种转台角度位移量测量方法,其特征在于,在转台上设定特殊识别区域包括如下子步骤:

3.根据权利要求2所述的一种转台角度位移量测量方法,其特征在于,对转台图像进行灰度化处理获取转台灰度图还包括如下子步骤:

4.根据权利要求3所述的一种转台角度位移量测量方法,其特征在于,基于第一数量个转台部分图像获取第一阈值、第二阈值以及第三阈值还包括如下子步骤:

5.根据权利要求4所述的一种转台角度位移量测量方法,其特征在于,基于第一阈值将转台灰度图转化为区域二值化图,基于第二阈值与第三阈值将转台灰度图转化为转台二值化图包括如下子步骤:

6.根据权利要求5所述的一种转台角度位移量测量方...

【专利技术属性】
技术研发人员:黄华林陈林
申请(专利权)人:深圳市盛泰奇科技有限公司
类型:发明
国别省市:

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