芯片测试日志的解析方法、装置、存储介质及计算机设备制造方法及图纸

技术编号:46117625 阅读:9 留言:0更新日期:2025-08-15 19:53
本申请实施例公开了一种芯片测试日志的解析方法、装置、存储介质及计算机设备。该方法包括:接收通讯板中的测试日志压缩包,以及接收通讯板的指令,根据指令获取通讯板中测试板的芯片测试结果,基于测试结果,确定测试日志压缩包是否存在第一测试日志包,若是,则对存在第一测试日志包的测试日志压缩包进行解析,若否,则不解析测试日志压缩包。本申请实施例提供的方案可以对测试芯片后生成的日志包进行筛选,从而只对测试失败的日志包进行解析,在降低主机计算量的同时提升日志包的解析效率。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及芯片测试,具体涉及一种芯片测试日志的解析方法、装置、存储介质及计算机设备


技术介绍

1、在芯片测试领域,对芯片进行全面且准确的测试至关重要。当前,在测试芯片的测试板与主机的交互过程中,芯片测试建立指令通讯时会将日志以实时传输的方式反馈给主机,这里的主机通常指计算机或控制系统。这些指令包不仅包含对测试板的控制指令,还反馈测试的各种状态,“pass”(测试成功)或“ng”(测试失败)标识,而主机的核心任务之一便是接收测试结果和测试日志。

2、目前,日志包中既涵盖ng测试结果,也包含大量pass测试结果。在实际的芯片测试场景中,测试板的测试往往会产生大规模的pass数据。当主机接收到海量测试数据并进行解析时,系统负载会急剧增加,随着测试数量的不断上升,处理数以千计的测试日志,大幅增加主机的处理负担,导致主机的处理能力下降,测试效率降低,甚至影响整个测试流程的正常进行。


技术实现思路

1、本申请实施例提供一种芯片测试日志的解析方法、装置、存储介质及计算机设备,可以对测试芯片后生成的日志包进行筛本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种芯片测试日志的解析方法,应用于芯片测试装置,所述芯片测试日志的解析装置包括主机、通讯板以及与所述通讯板连接的多个测试板,其特征在于,包括:

2.如权利要求1所述的芯片测试日志的解析方法,其特征在于,所述接收所述通讯板中的测试日志压缩包,包括:

3.如权利要求2所述的芯片测试日志的解析方法,其特征在于,所述接收所述通讯板的指令,根据所述指令,获取所述通讯板上所述测试板的芯片测试结果,包括:

4.如权利要求1所述的芯片测试日志的解析方法,其特征在于,所述接收所述通讯板中的测试日志压缩包,包括:

5.如权利要求4所述的芯片测试日志的解析方...

【技术特征摘要】

1.一种芯片测试日志的解析方法,应用于芯片测试装置,所述芯片测试日志的解析装置包括主机、通讯板以及与所述通讯板连接的多个测试板,其特征在于,包括:

2.如权利要求1所述的芯片测试日志的解析方法,其特征在于,所述接收所述通讯板中的测试日志压缩包,包括:

3.如权利要求2所述的芯片测试日志的解析方法,其特征在于,所述接收所述通讯板的指令,根据所述指令,获取所述通讯板上所述测试板的芯片测试结果,包括:

4.如权利要求1所述的芯片测试日志的解析方法,其特征在于,所述接收所述通讯板中的测试日志压缩包,包括:

5.如权利要求4所述的芯片测试日志的解析方法,其特征在于,所述接收所述通讯板的指令,根据所述指令,获取所述通讯板上所述测试板的芯片测试结果,包括:

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【专利技术属性】
技术研发人员:刘众黄慧敏郑闪
申请(专利权)人:深圳宏芯宇存储技术有限公司
类型:发明
国别省市:

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