一种光电探测器加电测试系统及方法技术方案

本申请提供的光电探测器加电测试系统及方法，适时控制旋转轴移动或翻转，以实现漏斗锁紧器与托盘锁紧和释放托盘。利用漏斗锁紧器中的透明漏斗、纵波振动器将待测光电探测器的位置和角度固定。利用三爪引脚撑开器将每一待测光电探测器的引脚撑开至适宜角度，之后控制阵列式点接触电路板和待测光电探测器的引脚实现点接触。阵列式点接触电路板在与待测光电探测器的引脚点接触后，根据待测光电探测器是否正常得到不同的电信号，将电信号发送给中控器后即可由中控器自动得到待测光电探测器的测试结果。本申请方案，提高了待测光电探测器的定位精度，降低了对引脚的损伤。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及智能装备制造，具体地，涉及一种光电探测器加电测试系统及方法。

技术介绍

1、光电探测器是属于ingaas半导体芯片类的一种电子元器件，常用于光能量强度检测，实现光电转换功能。半导体芯片封装后的元器件，在交付客户时，必须做48小时的加电老化，以通过筛选，将有缺陷的电子元器件剔除。在进行筛选时，需将3只引脚的光电探测器插入电路板上的排针中，进行在线监控。

2、当前电子制造业中，光电探测器的插拔检测主要依赖人工或半自动设备，存在以下技术瓶颈：

3、定位精度不足：传统机械夹具依赖刚性定位，难以补偿器件公差(±0.2mm以上)，导致接触不良率＞5％；

4、引脚损伤风险：人工利用机械扩口工具易造成引脚表面划伤(粗糙度ra>0.8μm)，影响高频信号传输。

5、因此，现有技术的光电探测器插拔检测方案还存在改进空间。

技术实现思路

1、本申请要解决的技术问题在于现有技术中光电探测器加电测试时存在的定位精度较低、引脚容易损伤及信息反馈不及时，进而提供一种光电探测器本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种光电探测器加电测试系统，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的光电探测器加电测试系统，其特征在于，还包括：

3.根据权利要求2所述的光电探测器加电测试系统，其特征在于，还包括：

4.根据权利要求3所述的光电探测器加电测试系统，其特征在于：

5.根据权利要求1所述的光电探测器加电测试系统，其特征在于：

6.根据权利要求1所述的光电探测器加电测试系统，其特征在于，还包括：

7.根据权利要求6所述的光电探测器加电测试系统，其特征在于，还包括：

8.根据权利要求1-7任一项所述的光电探测器加电测试系...

【技术特征摘要】

1.一种光电探测器加电测试系统，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的光电探测器加电测试系统，其特征在于，还包括：

3.根据权利要求2所述的光电探测器加电测试系统，其特征在于，还包括：

4.根据权利要求3所述的光电探测器加电测试系统，其特征在于：

5.根据权利要求1所述的光电探测器加电测试系统，其特征在于：

6.根据权利要求1所述的光电探测器加电测试系统，其...

【专利技术属性】
技术研发人员：钱艳维，杨志强，庞坤英，卢朝亮，李子豪，王浩龙，
申请(专利权)人：北京世维通科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：