PDLC膜缺陷检测系统、缺陷检测方法及生产工艺优化方法技术方案

本发明专利技术公开了一种PDLC膜缺陷检测系统、缺陷检测方法及生产工艺优化方法，属于PDLC技术领域，PDLC膜缺陷检测系统包括载台、正视相机组、两个侧视相机组和通电装置；通电装置用于向PDLC膜通电并调节通电电压，以使PDLC膜在雾化状态、半透明状态、透明状态间切换；正视相机组和两个侧视相机组用于拍摄PDLC膜在雾化状态、半透明状态、透明状态下的检测图像。本发明专利技术通过结合可精确调控PDLC膜状态的通电装置和多角度成像系统，能够针对不同光学特性的缺陷在各自最易检出的状态下进行成像。这有效克服了现有技术因光的散射、干涉、偏振等特性导致的不同类型缺陷检测条件互斥、难以同时检出的难题，显著降低了缺陷的漏检率。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于pdlc，具体涉及一种pdlc膜缺陷检测系统、缺陷检测方法及生产工艺优化方法。

技术介绍

1、聚合物分散液晶，又称为pdlc (polymer dispersed liquid crystal)，是液晶以微米量级的小微滴分散在有机固态聚合物基体内，由于由液晶分子构成的小微滴的光轴处于自由取向，其折射率与基体的折射率不匹配，当光通过基体时被微滴强烈散射而呈不透明的乳白状态或半透明状态。施加电场可调节液晶微滴的光轴取向，当两者折射率相匹配时，呈现透明态。除去电场，液晶微滴又恢复最初的散光状态，从而进行显示。

2、pdlc膜是在两层pet-ito膜之间涂布聚合物分散液晶层后经光固化制得，在膜的上下两层导电层上分别制作电极，给pdlc膜通电时膜变透明，不通电时膜为雾状。因为光的散射/干涉/偏振特性，不同的缺陷在检测中往往存在互斥性，因此现有技术通常很难同时将pdlc膜所有的缺陷同时检出，漏检率较高，这已经成为本领域技术人员迫切想要解决的问题。

3、需要说明的是，本专利技术的该部分内容仅提供与本专利技术有关的
技术介绍
，而并不必然本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种PDLC膜缺陷检测系统，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的PDLC膜缺陷检测系统，其特征在于，所述通电装置的通电电压范围为0-65V；

3.根据权利要求1所述的PDLC膜缺陷检测系统，其特征在于，所述载台下方设置有照明装置，所述照明装置用于向所述载台提供垂直向上的面光源；

4.根据权利要求1所述的PDLC膜缺陷检测系统，其特征在于，每个所述侧视相机组的光轴与所述载台的预设夹角各自独立地在30-90°内调节。

5.根据权利要求1所述的PDLC膜缺陷检测系统，其特征在于，所述正视相机组包括至少两个间隔排列的正视相机，每个所述侧...

【技术特征摘要】

1.一种pdlc膜缺陷检测系统，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的pdlc膜缺陷检测系统，其特征在于，所述通电装置的通电电压范围为0-65v；

3.根据权利要求1所述的pdlc膜缺陷检测系统，其特征在于，所述载台下方设置有照明装置，所述照明装置用于向所述载台提供垂直向上的面光源；

4.根据权利要求1所述的pdlc膜缺陷检测系统，其特征在于，每个所述侧视相机组的光轴与所述载台的预设夹角各自独立地在30-90°内调节。

5.根据权利要求1所述的pdlc膜缺陷检测系统，其特征在于，所述正视相机组包括至少两个间隔排列的正视相机，每个所述侧视相机组均包括至少两个间隔排列的侧视相机；

6.根据权利要求5所述的pdlc膜缺陷检测系统，其特征在于，所述正视相机和侧视相机均选择6500万以上像素，识别精度为0.01mm以下。

7.根据权利要求1所述的pdlc膜缺陷检测系统，其特征在于，所述载台为高透玻璃材质，平整度控制在±0.5mm以下。

8.根据权利要求1所述的pdlc膜缺陷检测系统，其特征在于，所述检测系统还包括：

9.一种pdlc膜缺陷检测方法，其特征在于，所述检测方法应用于如权利要求1至8任一项所述的pdlc膜缺陷检...

【专利技术属性】
技术研发人员：孙瑞，杜娟，吴永隆，
申请(专利权)人：上海隆昇光电新材料有限公司，
类型：发明
国别省市：