一种闪存宽温的筛选方法及存储介质技术

技术编号:46061922 阅读:7 留言:0更新日期:2025-08-11 15:47
一种闪存宽温的筛选方法及存储介质,包括:对原厂颗粒进行宽温筛选,将原厂颗粒分为多个读取错误位阈值的测试样本;根据多个读取错误位阈值的测试样本得到测试样本的初始良率;对测试样本进行全盘磨损处理,当全盘磨损的次数达到第一指定磨损次数时,对测试样本进行第一宽温验证,得到测试样本的第一良率;当全盘磨损的次数达到第二指定磨损次数时,对测试样本进行第二宽温验证,得到测试样本的第二良率;当全盘磨损的次数达到第三指定磨损次数时,对测试样本进行第三宽温验证,得到测试样本的第三良率;根据初始良率、第一良率、第二良率与第三良率,选择指定读取错误位阈值作为宽温筛选的指标,根据指标对后续原厂颗粒进行宽温筛选。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及存储,具体而言涉及一种闪存宽温的筛选方法及存储介质


技术介绍

1、随着nand闪存技术的发展,nand闪存颗粒应用的范围也越来越广,nand闪存颗粒在不同的应用场景下有不同的工作温度范围。根据应用场景的不同一般可分为消费级、工业级、汽车级和军工级,其中消费级颗粒的工作温度范围一般是0~70℃,工业级颗粒即为宽温颗粒,工作温度范围一般为-40℃~85℃。闪存原厂提供的颗粒在使用过程中发现有些颗粒的质量较好,由此希望有一种筛选方案可以对原厂颗粒进行筛选,筛选出满足工业级标准的颗粒,使原厂颗粒可以用于不同的场景(消费级、工业级),这样既可以保证其可靠性,也可以扩大产品线使质量较好的颗粒可以充分发挥其优势。

2、目前的筛选方法多为在恒定温度下对存储芯片的每个存储块依次执行erase(擦除)、program(编程)、read(读取)操作,最后根据操作成功与否来判断存储块是否为坏块,继而完成对所有存储块的筛选。这些方案无法筛选出全生命周期满足宽温标准的闪存。


技术实现思路

1、在
技术实现思路
部本文档来自技高网
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【技术保护点】

1.一种闪存宽温的筛选方法,其特征在于,所述方法包括:

2.如权利要求1所述的筛选方法,其特征在于,所述根据所述读取错误位,将所述原厂颗粒分为多个读取错误位阈值的测试样本,包括:

3.如权利要求2所述的筛选方法,其特征在于,所述根据多个读取错误位阈值的测试样本得到所述测试样本的初始良率,包括:

4.如权利要求1所述的筛选方法,其特征在于,所述宽温筛选包括阶段一、阶段二与阶段三,所述对所述原厂颗粒进行宽温筛选,包括:

5.如权利要求1所述的筛选方法,其特征在于,所述第一宽温验证包括期望次数宽温验证,所述当全盘磨损的次数达到第一指定磨损次数时,...

【技术特征摘要】

1.一种闪存宽温的筛选方法,其特征在于,所述方法包括:

2.如权利要求1所述的筛选方法,其特征在于,所述根据所述读取错误位,将所述原厂颗粒分为多个读取错误位阈值的测试样本,包括:

3.如权利要求2所述的筛选方法,其特征在于,所述根据多个读取错误位阈值的测试样本得到所述测试样本的初始良率,包括:

4.如权利要求1所述的筛选方法,其特征在于,所述宽温筛选包括阶段一、阶段二与阶段三,所述对所述原厂颗粒进行宽温筛选,包括:

5.如权利要求1所述的筛选方法,其特征在于,所述第一宽温验证包括期望次数宽温验证,所述当全盘磨损的次数达到第一指定磨损次数时,对所述测试样本进行第一宽温验证,得到所述测试样本的第一良率,包括:

6.如权利要求5所述的筛选方法,其...

【专利技术属性】
技术研发人员:许建强陈文涛
申请(专利权)人:合肥康芯威存储技术有限公司
类型:发明
国别省市:

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