发光二极管的巨量转移方法、发光器件和显示面板技术

技术编号:45976720 阅读:23 留言:0更新日期:2025-08-01 18:40
本公开提供了一种发光二极管的巨量转移方法、发光器件和显示面板,属于光电子制造技术领域。该巨量转移方法包括:采用激光剥离的方式将不同像素芯片转移至第一临时衬底的第一胶层上,使所述像素芯片的电极远离所述第一胶层;将所述第一临时衬底的所述像素芯片键合至第二临时衬底的第二胶层上,使所述像素芯片的电极与所述第二胶层相连,所述第二胶层的粘性大于所述第一胶层的粘性;将所述第二临时衬底的所述像素芯片键合至电路基板的第三胶层上,使所述像素芯片的电极远离所述第三胶层,所述第三胶层的粘性大于所述第二胶层的粘性。本公开能减少激光照射次数,改善激光照射对像素芯片造成的影响,提升巨量转移良率。

【技术实现步骤摘要】

本公开涉及光电子制造,特别涉及一种发光二极管的巨量转移方法、发光器件和显示面板


技术介绍

1、在新型的显示领域中,mini/micro led被公认为下一代显示技术,不断拓宽显示屏应用边界。mip(micro led in package,微型led封装)的发光器件包括多个像素芯片和电路基板,多个像素芯片间隔排布在电路基板上,且与电路基板上的焊点绑定。

2、相关技术中,通常采用fcoc(flip chip on carrier,倒装芯片载体封装)进行像素芯片的巨量转移。制备fcoc过程中,先要将生长有多个像素芯片的晶圆键合到临时基板上,使用激光将像素芯片从晶圆的衬底上剥离下来,让像素芯片的电极朝向临时基板;然后,将临时基板上的像素芯片键合到载板上,使得像素芯片的电极远离载板,以便后续对fcoc进行激光剥离,实现像素芯片的巨量转移。

3、然而,制备fcoc的过程中,需要对像素芯片进行两次转移,且像素芯片每次剥离过程都需要经过激光照射,而激光照射会对像素芯片的电性造成较大影响,使像素芯片漏电或产生缺陷,影响巨量转移的良率。

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【技术保护点】

1.一种发光二极管的巨量转移方法,其特征在于,所述巨量转移方法包括:

2.根据权利要求1所述的巨量转移方法,其特征在于,所述第二胶层(120)的粘性为所述第一胶层(110)的粘性的2至3倍;

3.根据权利要求1所述的巨量转移方法,其特征在于,所述第一胶层(110)中胶粘剂与固化剂的比例为9:1至11:1,所述第二胶层(120)中胶粘剂与固化剂的比例为13:1至15:1,所述第三胶层(130)为非导电胶层。

4.根据权利要求1至3任一项所述的巨量转移方法,其特征在于,采用激光剥离的方式将不同像素芯片(20)转移至第一临时衬底(11)的第一胶层(110)之...

【技术特征摘要】

1.一种发光二极管的巨量转移方法,其特征在于,所述巨量转移方法包括:

2.根据权利要求1所述的巨量转移方法,其特征在于,所述第二胶层(120)的粘性为所述第一胶层(110)的粘性的2至3倍;

3.根据权利要求1所述的巨量转移方法,其特征在于,所述第一胶层(110)中胶粘剂与固化剂的比例为9:1至11:1,所述第二胶层(120)中胶粘剂与固化剂的比例为13:1至15:1,所述第三胶层(130)为非导电胶层。

4.根据权利要求1至3任一项所述的巨量转移方法,其特征在于,采用激光剥离的方式将不同像素芯片(20)转移至第一临时衬底(11)的第一胶层(110)之前,还包括:

5.根据权利要求4所述的巨量转移方法,其特征在于,采用激光剥离的方式将不同像素芯片(20)转移至第一临时衬底(11)的第一胶层(110)包括:

6.根据权利要求5所述的巨量转移方法,其特征在于,激光分解所述载板(14)上的...

【专利技术属性】
技术研发人员:熊自阳宋玉华路遥张威吴志浩
申请(专利权)人:京东方华灿光电苏州有限公司
类型:发明
国别省市:

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