定位物件的方法和检测发光二极管芯片亮度的方法及设备技术

本发明专利技术提供一种在物件阵列中定位物件的方法，其特征在于，包括：(a)在所述物件阵列中，选定两个相邻的物件，其中所述两个相邻的物件有一个间距，所述间距至少可容纳所述两个相邻的物件；(b)以上述两个相邻物件的间距定义检测框；(c)计算得到所述检测框的中心点；以及(d)移动所述检测框，直至所述检测框的中心点碰触上述两个相邻物件中的物件，以定位所述被碰触的物件。本发明专利技术的在物件阵列中定位物件的方法适合用于检测发光二极管(LED)芯片亮度。本发明专利技术的方案藉由移动所述检测框，直至所述检测框的中心点碰触上述两个相邻物件中的物件，可使检测框的位置贴近物件的实际位置，藉此精准地定义物件的位置。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及一种在物件阵列中定位物件的方法，具体而言，涉及一种通过检测框在物件阵列中定位物件的方法。本申请还涉及一种检测发光二极管(led)芯片亮度的方法、检测发光二极管(led)芯片亮度的设备、计算机程序及内储程序的计算机可读取存储介质。

技术介绍

1、诸如电视机、计算机荧幕等的电子装置中包含由电子元件(例如：发光二极管(light-emitting diode,led)、有机发光二极管(organic light-emitting diode,oled))所组成的物件阵列。

2、传统上，在检测所述电子元件时，是默认所述电子元件完美地以相同的间距彼此间隔排列，并以上述默认的固定间距设置检测框，并进一步分析所述检测框内的电子元件所发出的讯号(例如：亮度)。然而，实际上电子元件并非完美地以相同的间距彼此间隔排列，所述电子元件在垂直及水平方向上皆具有大小不等的偏移，当电子元件的偏移量较大，以至于至少部分未被检测框所涵盖时，将导致检测结果失真。

技术实现思路

1、有鉴于上述问题，本专利技术提供一种在物件阵本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种在物件阵列中定位物件的方法，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的在物件阵列中定位物件的方法，其特征在于，以所述两个相邻物件的间距为周边，定义正方形的检测框。

3.根据权利要求1所述的在物件阵列中定位物件的方法，其特征在于，还包括计算所述被碰触物件的中心点。

4.根据权利要求3所述的在物件阵列中定位物件的方法，其特征在于，所述检测框的中心点碰触所述两个相邻物件的物件，使得所述检测框的中心点与所述被碰触物件的中心点重迭。

5.根据权利要求1所述的在物件阵列中定位物件的方法，其特征在于，所述物件阵列是发光二极管芯片阵列。

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【技术特征摘要】

1.一种在物件阵列中定位物件的方法，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的在物件阵列中定位物件的方法，其特征在于，以所述两个相邻物件的间距为周边，定义正方形的检测框。

3.根据权利要求1所述的在物件阵列中定位物件的方法，其特征在于，还包括计算所述被碰触物件的中心点。

4.根据权利要求3所述的在物件阵列中定位物件的方法，其特征在于，所述检测框的中心点碰触所述两个相邻物件的物件，使得所述检测框的中心点与所述被碰触物件的中心点重迭。

5.根据权利要求1所述的在物件阵列中定位物件的方法，其特征在于，所述物件阵列是发光二极管芯片阵列。

6.根据权利要求1所述的在物件阵列中定位物件的方法，其特征在于，所述物件...

【专利技术属性】
技术研发人员：林俊毅，赖邦仁，
申请(专利权)人：麦科先进股份有限公司，
类型：发明
国别省市：