【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及陶瓷基板,具体的,涉及抗弯曲氧化铝多层陶瓷基板及其制备方法。
技术介绍
1、在电子封装与能源器件领域,氧化铝多层陶瓷基板的可靠性直接影响高端电子器件的性能,而烧结助剂的选择是决定基板质量的关键。传统氧化镁、氧化钙等助剂虽能促进烧结致密化,但提升陶瓷基板力学性能的能力受限,主要原因在于:①氧化钙易吸潮变质并且还会引入水分干扰烧结过程,导致烧结致密化不充分、晶界结合力不足;②氧化镁在高温下与氧化铝反应生成镁铝尖晶石,该相具有与氧化铝基体良好的化学相容性和较高的结构稳定性,其纳米级颗粒在晶界处的均匀分布可有效阻碍晶粒异常长大,成为调控基板微观结构的关键,然而尖晶石的生成速率难以控制。
技术实现思路
1、本专利技术提出抗弯曲氧化铝多层陶瓷基板及其制备方法,解决了相关技术中氧化铝陶瓷基板力学性能低的问题。
2、本专利技术的技术方案如下:
3、本专利技术提出抗弯曲氧化铝多层陶瓷基板,原料包括以下重量份的组分:氧化铝95~110份、增塑剂3~8份、助剂6~12份、粘
...【技术保护点】
1.抗弯曲氧化铝多层陶瓷基板,其特征在于,原料包括以下重量份的组分:氧化铝95~110份、增塑剂3~8份、助剂6~12份、粘结剂4~7份、分散剂3~6份、溶剂60~70份;
2.根据权利要求1所述的抗弯曲氧化铝多层陶瓷基板,其特征在于,所述氧化镁和氧化钙的质量比为13:7~8;
3.根据权利要求1所述的抗弯曲氧化铝多层陶瓷基板,其特征在于,所述退火处理的温度为450~560℃,时间为6~7h,气氛为氩气;
4.根据权利要求1所述的抗弯曲氧化铝多层陶瓷基板,其特征在于,所述氧化钙的粒径为1~10μm,所述氧化镁和二氧化钛的粒径各自独立
...【技术特征摘要】
1.抗弯曲氧化铝多层陶瓷基板,其特征在于,原料包括以下重量份的组分:氧化铝95~110份、增塑剂3~8份、助剂6~12份、粘结剂4~7份、分散剂3~6份、溶剂60~70份;
2.根据权利要求1所述的抗弯曲氧化铝多层陶瓷基板,其特征在于,所述氧化镁和氧化钙的质量比为13:7~8;
3.根据权利要求1所述的抗弯曲氧化铝多层陶瓷基板,其特征在于,所述退火处理的温度为450~560℃,时间为6~7h,气氛为氩气;
4.根据权利要求1所述的抗弯曲氧化铝多层陶瓷基板,其特征在于,所述氧化钙的粒径为1~10μm,所述氧化镁和二氧化钛的粒径各自独立地为100~200nm。
5.根据权利要求4所述的抗弯曲氧化铝多层陶瓷基板,其特征在于,所述氧化钙的粒径为10μm...
【专利技术属性】
技术研发人员:高珊,金华江,李杰,陈新桥,梁鹏杰,李磊,张晨旭,
申请(专利权)人:河北鼎瓷电子科技有限公司,
类型:发明
国别省市:
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