【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及碳化硅合成领域,尤其涉及一种低氮含量高纯碳化硅粉料的合成方法及装置。
技术介绍
1、碳化硅(sic)作为第三代宽禁带半导体材料,凭借其高热导率、高击穿场强、高饱和电子漂移速率等优异性能,在高温、高频、高功率及抗辐射器件领域展现出巨大应用潜力。尤其在ar(增强现实)眼镜领域,无色透明的高纯半绝缘碳化硅材料因其超薄、高散热性、大视场角及无“彩虹纹”干扰等特性,成为替代传统材料的理想选择。然而,此类材料的制备需以低氮含量(氮浓度低于1×1016个/cm3)、高纯度(≥6n)的碳化硅粉料为基础,这对现有合成技术提出了极高挑战。
2、目前,碳化硅粉料的制备主要采用自蔓延高温合成法(shs),其优势在于工艺简单、节能高效且晶型可控。然而,该工艺在氮杂质控制方面存在显著瓶颈:首先,反应体系中的碳粉、硅粉及石墨坩埚等多孔材料对环境中氮气的吸附难以避免;其次,传统工艺依赖真空脱气、高温加热及惰性气体清洗等手段去除氮杂质,但受限于保温材料的低温区域及石墨坩埚的孔隙结构,氮脱附效率不足,导致最终粉料中氮浓度仍高达5×1016个/cm
...【技术保护点】
1.一种低氮含量高纯碳化硅粉料的合成方法,其特征在于,包括以下步骤:
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,
5.根据权利要求1所述的合成工艺,其特征在于,
6.一种用于实现权利要求1~5任一所述合成方法的装置,其特征在于,包括:
7.根据权利要求6所述的装置,其特征在于,
8.根据权利要求7所述的装置,其特征在于,
9.根据权利要求6或7所述的装置,其特征在于,
10.
...【技术特征摘要】
1.一种低氮含量高纯碳化硅粉料的合成方法,其特征在于,包括以下步骤:
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,
5.根据权利要求1所述的合成工艺,其特征在于,
<...【专利技术属性】
技术研发人员:高冰,李璐杰,
申请(专利权)人:浙江晶越半导体有限公司,
类型:发明
国别省市:
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。