一种仪器仪表校准方法、装置、设备及存储介质制造方法及图纸

本申请公开一种仪器仪表校准方法、装置、设备及存储介质，涉及仪器仪表校准技术领域。该方法包括：获取待校准设备对应的测试序列及测试序列对应的拟合值序列；测试序列包括期望值序列和实际值序列；计算期望值序列与拟合值序列中存在对应关系的期望值与拟合值的差值，筛选出第一最大差值；判断第一最大差值是否大于最大允许误差；若是则按序列顺序对测试序列进行元素排除获得第一目标分段序列并拟合确定对应的修正系数；基于第一目标分段序列拟合后获得的第二最大差值不大于最大允许误差；根据对应于测试序列对应的至少2个目标分段序列及相应的至少2组修正系数，得到测试序列对应的至少2个拟合函数。本申请能够低成本提高仪器仪表的校准精度。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及仪器仪表校准，特别涉及一种仪器仪表校准方法、装置、设备及存储介质。

技术介绍

1、仪器仪表校准是指在规定条件下，通过一系列操作来确定测量仪器或测量系统所指示的量值与标准所复现的量值之间的关系；其目的是通过与标准的比较，确定测量装置的示值误差，确保量值的准确性和可靠性。现有技术中，常采用比例校准，通过调整仪器的比例因子，使其输出与输入信号成线性关系，但常规线性拟合可能无法正常满足精度要求。如何低成本实现精准的比例校准是目前亟需解决的问题。

技术实现思路

1、有鉴于此，本专利技术的目的在于提供一种仪器仪表校准方法、装置、设备及存储介质，能够低成本提高仪器仪表的校准精度。其具体方案如下：

2、第一方面，本申请公开了一种仪器仪表校准方法，包括：

3、获取待校准设备对应的测试序列，以及所述测试序列对应的拟合值序列；所述测试序列包括期望值序列和实际值序列；

4、计算所述期望值序列与所述拟合值序列中存在对应关系的期望值与拟合值的差值，并筛选出第一最大差值；

5、本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种仪器仪表校准方法，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的仪器仪表校准方法，其特征在于，所述按序列顺序对所述测试序列进行元素排除获得第一目标分段序列并拟合确定对应的修正系数，包括：

3.根据权利要求2所述的仪器仪表校准方法，其特征在于，在所述按序列顺序对所述测试序列进行元素排除获得第一目标分段序列并拟合确定对应的修正系数之后，还包括：

4.根据权利要求2所述的仪器仪表校准方法，其特征在于，所述按序列顺序对所述测试序列进行至少一次元素排除得到第一目标分段序列，所述第一目标分段序列对应的第二最大差值不大于所述最大允许误差，包括：

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【技术特征摘要】

1.一种仪器仪表校准方法，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的仪器仪表校准方法，其特征在于，所述按序列顺序对所述测试序列进行元素排除获得第一目标分段序列并拟合确定对应的修正系数，包括：

3.根据权利要求2所述的仪器仪表校准方法，其特征在于，在所述按序列顺序对所述测试序列进行元素排除获得第一目标分段序列并拟合确定对应的修正系数之后，还包括：

4.根据权利要求2所述的仪器仪表校准方法，其特征在于，所述按序列顺序对所述测试序列进行至少一次元素排除得到第一目标分段序列，所述第一目标分段序列对应的第二最大差值不大于所述最大允许误差，包括：

5.根据权利要求2所述的仪器仪表校准方法，其特征在于，所述按序列顺序对所述测试序列进行元素排除获得第一目标分段序列并拟合确定...

【专利技术属性】
技术研发人员：姜亚雄，
申请(专利权)人：苏州联讯仪器股份有限公司，
类型：发明
国别省市：