一种探测多种密度和材质的X射线探测方法及探测器技术

本发明专利技术涉及X射线探测技术领域，公开了一种探测多种密度和材质的X射线探测方法及探测器，其中，该方法包括：将X射线束通过双层TFT探测器结构进行穿透成像；对穿透被检测物体的X射线在第一TFT成像层上形成第一普通能量X射线图像，同时在第二TFT成像层上形成经铜质过滤层过滤后的第一高能X射线图像；进行预处理，得到第二普通能量X射线图像和第二高能X射线图像；进行双能域特征提取，构建有效原子序数图和物质密度图；执行特征空间聚类分析与决策树分类，输出最终检测结果。本发明专利技术有效地整合了不同能量域的图像信息，增强了对混合材料和复杂结构的识别能力，同时延长了TFT探测器的使用寿命，降低了系统运行成本。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及x射线探测，尤其涉及一种探测多种密度和材质的x射线探测方法及探测器。

技术介绍

1、传统多密度材质x射线探测系统主要采用单层tft探测器，需要通过切换射线源能量进行多次采样才能获取不同密度材料的信息。这种多次采样方式不仅增加了样本接收的辐射剂量，还导致在拍摄间隔过程中由于被检测物体微小的位移而产生图像配准困难，从而影响材质识别的准确性。

2、更为棘手的是，当面对动态场景如传送带上快速移动的行李箱或生产线上流动的产品时，传统技术由于需要多次曝光而无法实现实时准确的材质区分。此外，常规能谱探测器成本高昂且体积较大，难以广泛应用于成本敏感的场景。现有的双能成像技术虽然能提供一定的材质区分能力，但在算法层面对多层次能量信息的利用有限，特别是在快速识别复杂物体中混合材质时表现不佳。

技术实现思路

1、本专利技术提供了一种探测多种密度和材质的x射线探测方法及探测器，本专利技术有效地整合了不同能量域的图像信息，增强了对混合材料和复杂结构的识别能力，同时延长了tft探测器的使用寿命，降低了系统运行成本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种探测多种密度和材质的X射线探测方法，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的探测多种密度和材质的X射线探测方法，其特征在于，所述将X射线通过双层TFT探测器结构进行穿透成像，其中所述双层TFT探测器结构包括第一TFT成像层、铜质过滤层和第二TFT成像层，包括：

3.根据权利要求1所述的探测多种密度和材质的X射线探测方法，其特征在于，所述对穿透被检测物体的X射线在所述第一TFT成像层上形成第一普通能量X射线图像，同时在所述第二TFT成像层上形成经所述铜质过滤层过滤后的第一高能X射线图像，包括：

4.根据权利要求1所述的探测多种密度和材质的X射...

【技术特征摘要】

1.一种探测多种密度和材质的x射线探测方法，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的探测多种密度和材质的x射线探测方法，其特征在于，所述将x射线通过双层tft探测器结构进行穿透成像，其中所述双层tft探测器结构包括第一tft成像层、铜质过滤层和第二tft成像层，包括：

3.根据权利要求1所述的探测多种密度和材质的x射线探测方法，其特征在于，所述对穿透被检测物体的x射线在所述第一tft成像层上形成第一普通能量x射线图像，同时在所述第二tft成像层上形成经所述铜质过滤层过滤后的第一高能x射线图像，包括：

4.根据权利要求1所述的探测多种密度和材质的x射线探测方法，其特征在于，所述对所述第一普通能量x射线图像和所述第一高能x射线图像进行预处理，得到第二普通能量x射线图像和第二高能x射线图像，包括：

5.根据权利要求1所述的探测多种密度和材质的x射线探测方法，其特征在于，所述基于所述第二普通能量x射线图像和所述第二高能x射线图像进行双能域特征提取，构建有效原子序数图和物质密度图，包括：

6.根据权利要求5所述的探测多种密度和材质的x射线探测方法，其特征在于，所述对所述低...

【专利技术属性】
技术研发人员：吴元，颜继永，
申请(专利权)人：深海精密科技深圳有限公司，
类型：发明
国别省市：