一种片上集成多光谱编码TDI传感器及其成像方法技术

技术编号:45804929 阅读:22 留言:0更新日期:2025-07-11 20:20
本发明专利技术提出了一种片上集成多光谱编码TDI传感器及其成像方法,包括TDI传感器、多光谱编码掩膜板和成像模型;所述TDI传感器包括像元阵列、读出电路、缓存电路、重建计算电路和时序控制电路,TDI传感器各部分均电连接;所述多光谱编码掩膜板覆盖在像元阵列的光敏面上,多光谱编码掩膜板的编码像元上镀有多光谱谱段的滤光片,部分滤光片上覆盖不透光介质。通过对TDI传感器进行片上编码集成多光谱掩膜板,对扫描获得的二维编码测量值图像进行重建获得多光谱二维图像,使TDI传感器在单个传感器上实现多光谱TDI多个光谱传感器的多光谱数据采集功能,同时解决了多光谱TDI传感器需要多个谱段传感器而产生的能耗成本大,空间成本高的缺点。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及多光谱tdi成像领域,具体为一种片上集成多光谱编码tdi传感器及其成像方法。


技术介绍

1、多光谱tdi传感器的每个谱段的传感器需要搭载独立的工作电路来完成不同光谱数据的采集。在航空航天遥感领域,搭载多光谱tdi传感器的设备所提供的空间小,供能低。多光谱tdi传感器存在着设备体积过大,驱动电路能耗过多的问题,同时多光谱tdi传感器的空间成本和能耗成本随着多光谱谱段数的增加而增加。在实际应用中这些问题往往限制着多光谱tdi传感器的大规模使用。


技术实现思路

1、针对如何通过单个tdi传感器完成多光谱tdi传感器的多光谱数据采集任务并解决多光谱tdi传感器的空间成本和能耗成本高的问题,本专利技术提出了一种片上集成多光谱编码tdi传感器及其成像方法,以解决上述
技术介绍
中提出的问题。本专利技术提供技术方案如下:

2、一种片上集成多光谱编码tdi传感器,包括tdi传感器、多光谱编码掩膜板和成像模型;所述tdi传感器包括像元阵列、读出电路、缓存电路、重建计算电路和时序控制电路,tdi传感器各部分本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种片上集成多光谱编码TDI传感器,其特征在于,包括TDI传感器、多光谱编码掩膜板和成像模型;所述TDI传感器包括像元阵列、读出电路、缓存电路、重建计算电路和时序控制电路,TDI传感器各部分均电连接;

2.根据权利要求1所述的一种片上集成多光谱编码TDI传感器,其特征在于,多光谱编码掩膜板以片上集成的方式紧贴TDI图像传感器的表面进行片上集成,与TDI图像传感器之间距离为0。

3.根据权利要求1所述的一种片上集成多光谱编码TDI传感器,其特征在于,所述设计的数组为只包含0和1的大小为的数组,数组中的每个元素与的编码像素阵列一一对应,当编码像素阵列的编码像元对应...

【技术特征摘要】

1.一种片上集成多光谱编码tdi传感器,其特征在于,包括tdi传感器、多光谱编码掩膜板和成像模型;所述tdi传感器包括像元阵列、读出电路、缓存电路、重建计算电路和时序控制电路,tdi传感器各部分均电连接;

2.根据权利要求1所述的一种片上集成多光谱编码tdi传感器,其特征在于,多光谱编码掩膜板以片上集成的方式紧贴tdi图像传感器的表面进行片上集成,与tdi图像传感器之间距离为0。

3.根据权利要求1所述的一种片上集成多光谱编码tdi传感器,其特征在于,所述设计的数组为只包含0和1的大小为的数组,数组中的每个元素与的编码像素阵列一一对应,当编码像素阵列的编码像元对应的数组元素为1,则对该编码像元上的滤光片表面覆盖不透光的介质,为0则不覆盖,其中数组中1的数量占数组总元素数量的比值在0到1之间,每一组滤光片上不透光介质覆盖情况与前一组情况相同。

4.根据权利要求3所述的一种片上集成多光谱编码tdi传感器,其特征在于,所述成像模型表达式为:

5.根据权利要求4所述的一种片上集成多光谱编码tdi传感器,其特征在于,所述编码模型具体表示为:

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【专利技术属性】
技术研发人员:冒添逸郑雷军王磊朱书进戴修斌
申请(专利权)人:南京邮电大学
类型:发明
国别省市:

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