一种复合腔激光器中局部隔离的装置及方法制造方法及图纸

技术编号:45717464 阅读:15 留言:0更新日期:2025-07-04 18:38
本发明专利技术属于光电子器件技术领域,公开了一种复合腔激光器中局部隔离的装置及方法。本发明专利技术提供的隔离装置包括设置在增益芯片和干扰反射元件之间的光路上的第一光隔离器,以及设置于干扰反射元件和谐振腔反射镜之间的第二光隔离器;第一光隔离器、第二光隔离器均包括检偏器和法拉第晶体,两个光隔离器的检偏器的检偏方向正交;沿激光出射方向,激光依次经过第一光隔离器的检偏器、法拉第晶体,激光依次经过第二光隔离器的法拉第晶体、检偏器。本发明专利技术利用第一光隔离器和第二光隔离器,允许经谐振腔反射镜后的反射光通过,并隔离干扰反射元件的反射光。本发明专利技术能够在干扰反射元件入射角近0°的情况下实现局部隔离,并保证激光器的线宽特性。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于光电子器件,更具体地,涉及一种复合腔激光器中局部隔离的装置及方法


技术介绍

1、在包含干扰反射元件(例如,干扰反射元件包含f-p标准具与滤波片)的复合腔激光器(例如外腔单频激光器)中,为了达到较低的峰值损耗,需将准直光源正入射至f-p标准具,但由于f-p标准具两面镀有高反膜,在正入射工作时反射的光会对有源腔即增益芯片产生影响。为了防止干扰反射元件(例如f-p标准具)的反射光返回到增益芯片内对其造成影响,现有研究提出了一些隔离方案,但是存在一些问题。

2、例如,如图1所示,若在增益芯片和干扰反射元件之间的光路上设置常规隔离器(常规单级隔离器由两个检偏器、一个法拉第晶体以及磁环组成,由于单级隔离器和双级甚至三级隔离器只有隔离度上的差异,因此以单级隔离器为例进行说明),虽然可以使增益芯片发出的光低损耗通过隔离器,将干扰反射元件的反射光隔离,但同时也会将谐振腔反射镜的反射光一并隔离,由于外腔激光器需要利用谐振腔反射镜把光返回到增益芯片的腔内以形成稳定的振荡,因此此类方案会导致无法形成谐振腔。为了解决无法形成谐振器的问题,在此类外腔激光器本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种复合腔激光器中局部隔离的装置,其特征在于,包括:设置在增益芯片和干扰反射元件之间的光路上的第一光隔离器,以及设置于所述干扰反射元件和谐振腔反射镜之间的第二光隔离器;所述第一光隔离器、所述第二光隔离器均包括检偏器和法拉第晶体,所述第一光隔离器的检偏器与所述第二光隔离器的检偏器的检偏方向正交;沿激光出射方向,激光先经过所述第一光隔离器的检偏器再经过所述第一光隔离器的法拉第晶体,激光先经过所述第二光隔离器的法拉第晶体再经过所述第二光隔离器的检偏器。

2.根据权利要求1所述的复合腔激光器中局部隔离的装置,其特征在于,所述复合腔激光器包括沿激光出射方向依次同轴设置的所述增益芯片...

【技术特征摘要】

1.一种复合腔激光器中局部隔离的装置,其特征在于,包括:设置在增益芯片和干扰反射元件之间的光路上的第一光隔离器,以及设置于所述干扰反射元件和谐振腔反射镜之间的第二光隔离器;所述第一光隔离器、所述第二光隔离器均包括检偏器和法拉第晶体,所述第一光隔离器的检偏器与所述第二光隔离器的检偏器的检偏方向正交;沿激光出射方向,激光先经过所述第一光隔离器的检偏器再经过所述第一光隔离器的法拉第晶体,激光先经过所述第二光隔离器的法拉第晶体再经过所述第二光隔离器的检偏器。

2.根据权利要求1所述的复合腔激光器中局部隔离的装置,其特征在于,所述复合腔激光器包括沿激光出射方向依次同轴设置的所述增益芯片、准直透镜、所述干扰反射元件和所述谐振腔反射镜。

3.根据权利要求1所述的复合腔激光器中局部隔离的装置,其特征在于,所述第一光隔离器和所述第二光隔离器均为两片式光隔离器。

4.根据权利要求3所述的复合腔激光器中局部隔离的装置,其特征在于,所述两片式光隔离器由检偏器、法拉第晶体和磁环构成,所述检偏器和所述法拉第晶体均设于所述磁环中。

5.根据权利要求1所述的复合腔激光器中局部隔离的装置,其特征在于,所述法拉第晶体用于将线偏振光的偏振方向旋转45°。

6.根据权利要求1所述的复合腔激光器中局部隔离的装置,其特征在于,所述干扰反射元件包括沿激光出射方向依次同轴设置的f-p标准具和滤光片,所述f-p标准具的两端面均镀有高反膜;所述谐振腔反射镜采用分光片。

7.根据权利要求1所述的复合腔激光器中局部隔离的装置,其特征在于,所述复合腔激光器为外腔单频激光器。

8.一种复合腔激光器中局部隔离的方法,其...

【专利技术属性】
技术研发人员:热合木吐拉·热合木江王良恒米全林
申请(专利权)人:武汉高跃科技有限责任公司
类型:发明
国别省市:

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