【技术实现步骤摘要】
本技术涉及芯片试验装置，特别是涉及一种用于蓝光芯片的紫外老化试验装置。
技术介绍
1、在一些芯片的紫外老化试验中，需要使用紫外灯照射发光的芯片，通过模拟自然环境中的紫外光照条件，来加速芯片材料的老化过程，从而在短时间内评估芯片的耐老化性能和长期稳定性。此时，测试人员需要观察试验中的芯片，以确认其何时停止工作，然而，当蓝光芯片进行该紫外老化试验，由于蓝光芯片发出蓝光，长时间处于蓝光的照射环境下，会对人员的身体健康造成影响，如对眼睛造成影响、造成视觉疲劳和影响睡眠等。
技术实现思路
1、本技术要解决的技术问题是提供一种能防止蓝光芯片在测试时的蓝光对人员的身体健康造成影响的用于蓝光芯片的紫外老化试验装置。
2、为了解决上述技术问题，本技术提供了一种用于蓝光芯片的紫外老化试验装置，包括壳体、紫外灯以及黄色荧光胶块，所述壳体的底部为开口，所述紫外灯朝下地安装在所述壳体的内部的顶部，所述黄色荧光胶块设有四块，四块所述黄色荧光胶块分别设于所述壳体的外侧，所述黄色荧光胶块的顶部分别与所述壳体的...
【技术保护点】
1.一种用于蓝光芯片的紫外老化试验装置，其特征在于：包括壳体、紫外灯以及黄色荧光胶块，所述壳体的底部为开口，所述紫外灯朝下地安装在所述壳体的内部的顶部，所述黄色荧光胶块设有四块，四块所述黄色荧光胶块分别设于所述壳体的外侧，所述黄色荧光胶块的顶部分别与所述壳体的侧部转动连接，所述黄色荧光胶块的底面低于所述壳体的底面，四块所述黄色荧光胶块拼接形成呈矩形的荧光胶框，所述荧光胶框围蔽所述壳体的底部。
2.根据权利要求1所述的用于蓝光芯片的紫外老化试验装置，其特征在于：所述壳体内设有黄色荧光胶板，所述黄色荧光胶板将所述壳体的内部分隔为试验腔以及散热腔，所述黄色荧光胶...
【技术特征摘要】
1.一种用于蓝光芯片的紫外老化试验装置，其特征在于：包括壳体、紫外灯以及黄色荧光胶块，所述壳体的底部为开口，所述紫外灯朝下地安装在所述壳体的内部的顶部，所述黄色荧光胶块设有四块，四块所述黄色荧光胶块分别设于所述壳体的外侧，所述黄色荧光胶块的顶部分别与所述壳体的侧部转动连接，所述黄色荧光胶块的底面低于所述壳体的底面，四块所述黄色荧光胶块拼接形成呈矩形的荧光胶框，所述荧光胶框围蔽所述壳体的底部。
2.根据权利要求1所述的用于蓝光芯片的紫外老化试验装置，其特征在于：所述壳体内设有黄色荧光胶板，所述黄色荧光胶板将所述壳体的内部分隔为试验腔以及散热腔，所述黄色荧光胶板设有分别与所述试验腔和所述散热腔连通的通气孔，所述壳体的一侧安装有散热风扇，所述散热风扇的抽风端与所述散热腔连通，所述紫外灯设于所述试验腔内。
3.根据权利要求2所述的用于蓝光芯片的紫外老化试验装置，其特征在于：所述通气孔从靠近所述试验腔的一端...
【专利技术属性】
技术研发人员：钱帆，张文彬，朱青青，孙兆维，梁乐成，朱国文，
申请(专利权)人：广东万木新材料科技有限公司，
类型：新型
国别省市：
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