【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及led生产制造，特别涉及一种led分选用合图方法、系统。
技术介绍
1、发光二极管(light-emitting diode，led)是一种能发光的半导体电子元件。这种电子元件早在1962年出现，早期只能发出低光度的红光，之后发展出其他单色光的版本，时至今日能发出的光已遍及可见光、红外线及紫外线，亮度也提高到相当的亮度。而用途也由初时作为指示灯、显示板等；随着技术的不断进步，发光二极管已被广泛的应用于显示器、电视机背光、装饰和照明。在led半导体芯片制造行业，随着产能需求增加，所需分选机数量也日益增多，在生产中往往会遇到许多问题需要通过重新扫描才可继续作业，机台再次扫描后因扫描良率过低导致机台无法自动合图，需要人员手动合图。
2、现有技术中led芯片分选流程具体为：首先对晶圆进行扫描，确定每一颗芯片的位置信息，对晶圆上的led芯片进行测试，生成测试文档；然后分选机对晶圆扫描生成扫描文档，最后对扫描文档和测试文档进行合档，根据需求得到分选文档，并对led芯片进行分选入bin。
3、然而现有技术存在以下
本文档来自技高网...【技术保护点】
1.一种LED分选用合图方法，其特征在于，包括如下步骤：
2.根据权利要求1所述的LED分选用合图方法，其特征在于，所述通过分选机扫描LED晶圆片，得到所述LED晶圆片的扫描图档，并通过点测机测试所述LED晶圆片，得到所述LED晶圆片的点测图档，具体步骤包括：
3.根据权利要求2所述的LED分选用合图方法，其特征在于，所述将所述扫描图档与所述点测图档进行对比，通过所述分选机判断所述LED晶圆片的扫描良率，具体步骤包括：
4.根据权利要求1所述的LED分选用合图方法，其特征在于，当所述LED晶圆片的扫描良率大于所述扫描良率临界值时，采...
【技术特征摘要】
1.一种led分选用合图方法，其特征在于，包括如下步骤：
2.根据权利要求1所述的led分选用合图方法，其特征在于，所述通过分选机扫描led晶圆片，得到所述led晶圆片的扫描图档，并通过点测机测试所述led晶圆片，得到所述led晶圆片的点测图档，具体步骤包括：
3.根据权利要求2所述的led分选用合图方法，其特征在于，所述将所述扫描图档与所述点测图档进行对比，通过所述分选机判断所述led晶圆片的扫描良率，具体步骤包括：
4.根据权利要求1所述的led分选用合图方法，其特征在于，当所述led晶圆片的扫描良率大于所述扫描良率临界值时，采用一般合图法将所述扫描图档与所述点测图档进行一次合图，具体步骤包括：
5.根据权利要求1所述的led分选用合图方法，其特征在于，在所述点测图档中，所述空白地形为已挑拣...
【专利技术属性】
技术研发人员：邹长有，金从龙，文国昇，董国庆，赵晓明，王晓明，曾祥干，李宗魁，宋幸，
申请(专利权)人：江西兆驰半导体有限公司，
类型：发明
国别省市：
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