【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及像增强器，具体涉及一种测量像增强器mcp恢复时间的方法。
技术介绍
1、像增强器是一种能够将低亮度光学图像增强到足够亮度以便观察的设备，常封装在弱光探测的光电倍增器件中，像增强器一般由阴极、微通道板mcp和荧光屏组成，其工作原理为：通过阴极将入射光转换为光电子，其产生的光电子通过mcp实现电子加速、倍增后输出至荧光屏上进行成像。
2、当入射光较强时，mcp会输出较大电流，从而导致mcp输出端的通道壁被充电，影响后续电子倍增和发射，而这种充电可以被mcp的带电流中和，整个过程中的充电和中和所需时间为mcp的恢复时间。
3、常规mcp器件，可以通过脉冲电子枪和示波器等方法对mcp恢复时间进行直接测量。但是对于封装完成的像增强器，mcp的输入端被阴极遮挡，无法直接接收电子输入，而输出端受荧光屏、余辉等因素的影响，无法通过常规测试手段对封装后的像增强器中的mcp恢复时间进行直接测试。并且在像增强器封装过程中，需要对mcp进行冲刷等操作，该操作会导致mcp的时间特性发生改变，因此封装前、后的mcp时间特性会存...
【技术保护点】
1.一种测量像增强器MCP恢复时间的方法，其特征在于，包括以下步骤：
2.根据权利要求1所述一种测量像增强器MCP恢复时间的方法，其特征在于：
3.根据权利要求2所述一种测量像增强器MCP恢复时间的方法，其特征在于，步骤3具体为：
4.根据权利要求3所述一种测量像增强器MCP恢复时间的方法，其特征在于：
5.根据权利要求4所述一种测量像增强器MCP恢复时间的方法，其特征在于，步骤5具体为：
6.根据权利要求5所述一种测量像增强器MCP恢复时间的方法，其特征在于：
7.根据权利要求1所述一种测量像增...
【技术特征摘要】
1.一种测量像增强器mcp恢复时间的方法，其特征在于，包括以下步骤：
2.根据权利要求1所述一种测量像增强器mcp恢复时间的方法，其特征在于：
3.根据权利要求2所述一种测量像增强器mcp恢复时间的方法，其特征在于，步骤3具体为：
4.根据权利要求3所述一种测量像增强器mcp恢复时间的方法，其特征在于：
5.根据权利要求4所述一种测量像增强器mcp恢复时间的方法，其特征在于，步骤5具体为：
...【专利技术属性】
技术研发人员：梁晓祯，吕林蔚，石大莲，曹伟伟，李然，邢雪，白永林，高佳锐，秦君军，
申请(专利权)人：中国科学院西安光学精密机械研究所，
类型：发明
国别省市：
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