硅棒的少子寿命检测装置制造方法及图纸

本技术属于硅棒的检测技术领域，具体涉及一种硅棒的少子寿命检测装置，该检测装置包括：工作台；支撑架；两组检测仪，对应设于硅棒的两端面的外侧，两组所述检测仪的检测端朝向所述硅棒对应的端面；驱动组件，用以驱动两组检测仪沿硅棒的轴向相互靠近或远离；两组连接架，用以连接两组检测仪和所述驱动组件；两组缓冲件，对应设于两组所述连接架上，所述缓冲件的前端朝向硅棒对应的端面；所述缓冲件先于所述检测仪接触硅棒的端面。该检测装置利用驱动组件驱动检测仪靠近硅棒，使检测仪与硅棒接触；在检测仪接触硅棒之前，缓冲件能够降低检测仪的移动速度，避免检测仪与硅棒产生较大的冲击载荷，改善硅棒或检测仪等器件损坏的问题。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及硅棒的检测，特别是涉及一种硅棒的少子寿命检测装置。

技术介绍

1、在光伏电池生产过程中，需要先拉制出圆柱体的单晶硅棒，然后将圆柱形的硅棒依次经过切断工序、切方工序和切片工序形成硅片，最后将硅片制作成电池片。在大规模生产单晶硅棒时需要向晶炉中连续复投，使同一晶炉产出多根硅棒，以提升硅棒的生产效率。

2、由于多次复投会使较多的金属杂质留在炉底，导致部分硅棒的少子寿命偏低，从而使电池效率不稳定，因此需要检测装置检测硅棒的少子寿命，以保证电池片的品质。

3、现有的检测装置通常利用驱动组件驱动检测仪靠近硅棒，使检测仪与硅棒接触，以实现自动化。但是检测仪在接触硅棒前具有较大的移动速度，检测仪与硅棒之间容易产生较大的冲击载荷，容易导致硅棒或检测仪等器件损坏。

技术实现思路

1、为改善因检测仪与硅棒之间容易产生较大的冲击载荷，导致硅棒或检测仪等器件损坏的问题，本技术了提供一种硅棒的少子寿命检测装置，该检测装置能够在检测仪接触硅棒之前降低检测仪的移动速度，避免检测仪与硅棒产生较大的冲击载荷，改本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种硅棒的少子寿命检测装置，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于：每组所述连接架(40)上均设有接近开关(80)，所述接近开关(80)的检测端朝向硅棒(90)对应的端面，所述接近开关(80)与所述检测仪(50)和驱动组件(30)电连接；当所述接近开关(80)检测到硅棒(90)时，所述驱动组件(30)停止驱动，两组所述检测仪(50)的检测端抵接于硅棒(90)对应的端面，所述检测仪(50)开启并检测硅棒(90)。

3.根据权利要求1或2所述的检测装置，其特征在于：每组所述检测仪(50)的外侧均设有保护套(60)。p>

4.根据权...

【技术特征摘要】

1.一种硅棒的少子寿命检测装置，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于：每组所述连接架(40)上均设有接近开关(80)，所述接近开关(80)的检测端朝向硅棒(90)对应的端面，所述接近开关(80)与所述检测仪(50)和驱动组件(30)电连接；当所述接近开关(80)检测到硅棒(90)时，所述驱动组件(30)停止驱动，两组所述检测仪(50)的检测端抵接于硅棒(90)对应的端面，所述检测仪(50)开启并检测硅棒(90)。

3.根据权利要求1或2所述的检测装置，其特征在于：每组所述检测仪(50)的外侧均设有保护套(60)。

4.根据权利要求1或2所述的检测装置，其特征在于：所述驱动组件(30)包括两组磁偶式无杆气缸，两组磁偶式无杆气缸上的滑块沿硅棒(90)的轴向移动，两组所述检测仪(50)通过所述连接架(40)连接对应的所述滑块。

5.根据权利要求1或2所述的检测装置，其特征在于：所述支撑架(20)包括横跨在所述工作台(10)上方的横梁(21)以及竖直设于所述工作台(10)两侧的支腿(22)，所述横梁(21)的纵向与硅棒(90)的轴向平行。

6.根据权利要求5所述的检测装置，其特征在于：所述驱动组件(30)包括两组磁偶式无杆气缸，两组所述磁偶式无...

【专利技术属性】
技术研发人员：董永灿，安彬，于洋，边志坚，
申请(专利权)人：无锡晶澳卫蓝新能源科技有限公司，
类型：新型
国别省市：