基于改进ω-k算法的合成孔径雷达大斜视成像方法技术

本发明专利技术提供一种基于改进ω‑k算法的合成孔径雷达大斜视成像方法。本发明专利技术中，首先在大斜视SAR成像过程中，基于预设的斜视SAR观测几何模型以及雷达工作参数之间定量化的约束关系，以获取目标场景区域有效的原始回波数据。接着依次执行多普勒中心估计与补偿、一致压缩、补余压缩、方位向位置校正和距离向位置校正，其中一致压缩和补余压缩分别通过在二维频率参考函数相乘和Stolt插值实现，方位向位置校正在方位频域内实现，距离向位置校正通过重构距离向采样栅格实现。针对大斜视导致目标方位位置和距离位置产生的偏移，将校正过程嵌入到ω‑k算法的成像流程中，实现二维位置的校正，最终得以获取位置无偏移、高分辨率的SAR图像。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及雷达信号处理，具体涉及一种基于改进ω-k算法的合成孔径雷达大斜视成像方法。

技术介绍

1、合成孔径雷达(synthetic aperture radar，简称sar)是一种具有高分辨率的主动遥感探测传感器，属于相干探测雷达，其通过雷平台的运动利用合成孔径技术实现大的等效天线口径，从而获得方位向的高分辨率能力；通过发射大带宽信号，实现对距离向上的高分辨率。一般情况下，sar工作在正侧视模式基本能够满足侦察和测绘需求。而如果需要提前探测目标时，就需要sar工作在大前斜模式。

2、在传统大斜视波数域算法(ω-k algorithm，简称ω-k算法)中，对定位的影响主要包括两个方面，大斜视角导致的方位向位置偏移和大斜视角下stolt插值对距离向定位的影响。特别是在进行stolt插值时，在映射域的频率范围相对于原始域的有效频率范围发生了变化，即等效采样率相对于原始采样率有了不同，在以往的处理算法中并没有考虑这种变化，这就要求对距离频率轴进行重采样，使其满足映射之后的采样分布，否则会导致距离向位置的偏移。这种偏移在正侧视或斜视角较小的时候影响本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种基于改进ω-k算法的合成孔径雷达大斜视成像方法，其特征在于，包括：

2.如权利要求1所述的合成孔径雷达大斜视成像方法，其特征在于，所述斜视SAR观测几何模型包括：

3.如权利要求2所述的合成孔径雷达大斜视成像方法，其特征在于，所述雷达工作参数之间定量化的约束关系包括：

4.如权利要求3所述的合成孔径雷达大斜视成像方法，其特征在于，所述参考函数为exp(jφref(fa,fr))，其中exp为以e为底的指数函数，j为复数虚部，φref(fa,fr)为二维参考相位，且

5.如权利要求4所述的合成孔径雷达大斜视成像方法，其特征在于，所述整...

【技术特征摘要】

1.一种基于改进ω-k算法的合成孔径雷达大斜视成像方法，其特征在于，包括：

2.如权利要求1所述的合成孔径雷达大斜视成像方法，其特征在于，所述斜视sar观测几何模型包括：

3.如权利要求2所述的合成孔径雷达大斜视成像方法，其特征在于，所述雷达工作参数之间定量化的约束关系包括：

4.如权利要求3所述的合成孔径雷达大斜视成像方法，其特征在于，所述参考函数为exp(jφref(fa,fr))，其中exp为以e为底的指数函数，j为复数虚部，φref(fa,fr)为二维参考相位，且

5.如权利要求4所述的合成孔径雷达大斜视成像方法，其特征在于，所述整体偏移量表示为δx＝rreftan(θs)，方位向位置的校正过程表示为：

6.如权利要求4所述的合成...

【专利技术属性】
技术研发人员：王帅，杨利霞，
申请(专利权)人：安徽大学，
类型：发明
国别省市：