MBIST测试方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术实施例提供了一种MBIST测试方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质。方法包括：通过主控处理器向MBIST内测试模块发送测试配置信息；通过MBIST内测试模块根据测试配置信息生成测试激励信号，并且将测试激励信号发送至MBIST控制模块；通过MBIST控制模块根据测试激励信号对MBIST测试模块进行控制处理，以实现对静态随机存取存储器进行MBIST测试处理，得到MBIST测试结果；并且将MBIST测试结果反馈至MBIST内测试模块；通过主控处理器从MBIST内测试模块中得到MBIST测试结果。根据本发明专利技术实施例的方案，能够在成品测试的阶段简化MBIST测试。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及芯片测试，特别涉及一种mbist测试方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质。

技术介绍

1、针对静态随机存取存储器(static random access memory,sram)的存储器内建自测试(memory bui lt-in self-test,mbist)，是在晶圆探针测试阶段利用集成电路自动测试机的探针通过引脚焊盘输入信号激励的方式启动芯片内部的mbist电路完成sram的自动测试，并把测试结果读回集成电路自动测试机，以利用集成电路自动测试机来判读sram是否存在故障。然而，后续的封装过程中依然有可能引入sram相关的故障，而在成品测试的阶段实施与晶圆探针测试阶段相同的mbist测试就会变得比较繁杂。

技术实现思路

1、本专利技术旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。

2、为此，本专利技术提出一种mbist测试方法，能够在成品测试的阶段简化mbist测试。

3、本专利技术还提出一种应用上述mbist测试方法的装置。

4、本专利技术还提出一种本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种MBIST测试方法，其特征在于，应用于MBIST测试装置，所述MBIST测试装置包括主控处理器、MBIST内测试模块、MBIST控制模块、MBIST测试模块和静态随机存取存储器，所述主控处理器、所述MBIST内测试模块、所述MBIST控制模块、所述MBIST测试模块和所述静态随机存取存储器依次连接，所述方法包括：

2.根据权利要求1所述的MBIST测试方法，其特征在于，所述MBIST测试装置还包括多路复用器，所述多路复用器连接于所述MBIST内测试模块和所述MBIST控制模块之间，所述多路复用器的输入端还连接于集成电路自动测试机，所述通过所述MBIST控制模块根据所述...

【技术特征摘要】

1.一种mbist测试方法，其特征在于，应用于mbist测试装置，所述mbist测试装置包括主控处理器、mbist内测试模块、mbist控制模块、mbist测试模块和静态随机存取存储器，所述主控处理器、所述mbist内测试模块、所述mbist控制模块、所述mbist测试模块和所述静态随机存取存储器依次连接，所述方法包括：

2.根据权利要求1所述的mbist测试方法，其特征在于，所述mbist测试装置还包括多路复用器，所述多路复用器连接于所述mbist内测试模块和所述mbist控制模块之间，所述多路复用器的输入端还连接于集成电路自动测试机，所述通过所述mbist控制模块根据所述测试激励信号对所述静态随机存取存储器进行mbist测试处理，得到mbist测试结果之前，所述方法还包括：

3.根据权利要求1所述的mbist测试方法，其特征在于，所述mbist内测试模块包括寄存器模块、激励产生模块和测试模式存储模块，所述通过所述mbist内测试模块根据所述测试配置信息生成测试激励信号，并且将所述测试激励信号发送至所述mbist控制模块，包括：

4.根据权利要求3所述的mbist测试方法，其特征在于，所述将所述mb...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘弋波，赖鼐，
申请(专利权)人：珠海妙存科技有限公司，
类型：发明
国别省市：