【技术实现步骤摘要】
本技术涉及紧缩场测试，尤其涉及一种用于静区扫描天线的扫描架。
技术介绍
1、目前，在静区电性能的检测领域，依据gjb8480-2015《紧缩场性能测量方法》，用理论上的等相位面作为测试平面，该平面与紧缩场辐射主轴正交。一般宜在静区的前、中、后选择三个测试平面。在测试平面内，用过中心点做水平线和竖直线，在这个十字线上进行幅度和相位特性测量。静区内场幅度特性和相位特性通常采用扫描法测量。扫描法测量原理是在静区内将天线在测试平面内移动，测量场的幅度变化和相位变化是否满足要求。理想的平面波情况下，测得的场幅度是一致的，相位是恒定的。实际情况下优于反射面加工精度、边缘绕射、馈源直漏、周围反射等原因，不可能达到理想的要求，场幅度和相位会有一定的变化。紧缩场的实际性能可用紧缩场静区测试平面内场幅度特性和相位特性来表示。场幅度特性一般用幅度变化来表示，场相位特性一般用相位变化来表示。测量内容包含静区主极化场的幅度锥削、幅度波纹、相位变化和交叉极化，因此，有鉴于这种需求，需设计一个扫描架，将天线安装在扫描架的极化转台上，以实现检测天线的平面运动以进行上述
【技术保护点】
1.一种用于静区扫描天线的扫描架，其特征在于，包括：角度调整座(11)，连接在所述角度调整座(11)上的第一平移座(12)，安装在所述第一平移座(12)上的天线极化转台(13)；
2.根据权利要求1所述的扫描架，其特征在于，所述俯仰角度调整机构(112)包括：第一安装底板(1121)，在所述第一安装底板(1121)上方设置的第一俯仰板(1122)，设置在所述第一安装底板(1121)上的第一转动支座(1123)和俯仰限位座(1124)，用于调整所述第一俯仰板(1122)倾斜角度的俯仰驱动结构(1125)；
3.根据权利要求2所述的扫描架，其特征在...
【技术特征摘要】
1.一种用于静区扫描天线的扫描架，其特征在于，包括：角度调整座(11)，连接在所述角度调整座(11)上的第一平移座(12)，安装在所述第一平移座(12)上的天线极化转台(13)；
2.根据权利要求1所述的扫描架，其特征在于，所述俯仰角度调整机构(112)包括：第一安装底板(1121)，在所述第一安装底板(1121)上方设置的第一俯仰板(1122)，设置在所述第一安装底板(1121)上的第一转动支座(1123)和俯仰限位座(1124)，用于调整所述第一俯仰板(1122)倾斜角度的俯仰驱动结构(1125)；
3.根据权利要求2所述的扫描架，其特征在于，所述俯仰驱动结构(1125)包括：第一支座(1125a)、第二支座(1125b)和俯仰驱动螺杆(1125c)；
4.根据权利要求3所述的扫描架，其特征在于，所述旋转角度调整机构(111)与所述第一俯仰板(1122)相连接，且其位于所述俯仰转轴(1123a)的正上方；
5.根据权利要求4所述的扫描架，其特征...
【专利技术属性】
技术研发人员：孔德旺，孙良奎，陈海英，黄思文，李焕，
申请(专利权)人：成都雷谱特科技有限公司，
类型：新型
国别省市：
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