一种提升RCS测量系统低频测试能力方法技术方案

本发明专利技术公开了一种提升RCS测量系统低频测试能力方法，属于雷达技术领域，该提升RCS测量系统低频测试能力方法，包括以下步骤：S1、射频调制，S2、下变频混频，S3、中频解调滤波。解决了射频调制RCS测量系统中硬件门固态开关产生的视频泄漏影响，该方法充分考虑了谐波杂散信号，交调互调信号，直漏信号等因素对测量系统动态范围的影响，有效的抑制固态开关调制视频脉冲在射频主线上的直接泄漏，大幅提高了RCS测量系统低频的测试能力和测量精度，在工程应用中具有特别的价值。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及雷达，具体为一种提升rcs测量系统低频测试能力方法。

技术介绍

1、雷达散射截面(rcs，radar cross section)测量是研究目标电磁散射特性的重要方法，研究雷达目标特征信号的主要手段有：理论计算、全尺寸目标测量、缩比目标测量和动态目标测量，目标电磁散射辐射特性数据的获取主要依靠测量法，因此测量技术在目标特性研究中具有很重要的地位，为了提升rcs测量系统测量能力，本文提出了一种基于硬件门及下变频系统提升rcs测量系统低频测试能力方法，用于去除硬件门固态开关的视频泄漏，并详细描述了系统原理，系统组成及关键技术，该系统同国内现有典型的测量系统比较，大幅提高了rcs测量系统低频的测试能力和测量精度。

2、rcs测量系统是一种电子测量仪器，用于测量目标的雷达散射截面(rcs)，这种系统通常利用紧缩场技术，通过反射面将球面波在近距离转换成平面波，为目标rcs测试提供一个性能优良的平面波照射环境，同时，它可以在暗室内完成较大尺寸的产品测量，rcs测量系统的主要功能和特点包括：一维、二维高分辨率rcs测量，多维度(时域、频域、极化本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种提升RCS测量系统低频测试能力方法，其特征在于，包括以下步骤：

2.据权利要求1所述的一种提升RCS测量系统低频测试能力方法，其特征在于，包括以下步骤：根据S1中的操作步骤，

3.据权利要求1所述的一种提升RCS测量系统低频测试能力方法，其特征在于，包括以下步骤：根据S2中的操作步骤，

4.据权利要求1所述的一种提升RCS测量系统低频测试能力方法，其特征在于，包括以下步骤：根据S3中的操作步骤，

5.据权利要求4所述的一种提升RCS测量系统低频测试能力方法，其特征在于，包括以下步骤：根据S1中的操作步骤，所述矢量网络分析仪发射射频信...

【技术特征摘要】

1.一种提升rcs测量系统低频测试能力方法，其特征在于，包括以下步骤：

2.据权利要求1所述的一种提升rcs测量系统低频测试能力方法，其特征在于，包括以下步骤：根据s1中的操作步骤，

3.据权利要求1所述的一种提升rcs测量系统低频测试能力方法，其特征在于，包括以下步骤：根据s2中的操作步骤，

4.据权利要求1所述的一种提升rcs测量系统低频测试能力方法，其特征在于，包括以下步骤：根据s3中的操作步骤，

5.据权利要求4所述的一种提升rcs测量系统低频测试能力方法，其特征在于，包括以下步骤：根据s1中的操作步骤，所述矢量网络分析仪发射射频信号及本振信号。

6.据权利要求5所述的一种提升rcs测量系统低频测试能力方法，其特征在于，包括以下步骤：根据s1中的操作步骤，所述射频路径上使用固态开关对射频连续波信号进行脉冲调制。

7.据权利要求6所述的一种提升r...

【专利技术属性】
技术研发人员：孔德旺，孙良奎，肖雪，唐代云，
申请(专利权)人：成都雷谱特科技有限公司，
类型：发明
国别省市：