System.ArgumentOutOfRangeException: 索引和长度必须引用该字符串内的位置。 参数名: length 在 System.String.Substring(Int32 startIndex, Int32 length) 在 zhuanliShow.Bind() 一种提升RCS测量系统低频测试能力方法技术方案_技高网

一种提升RCS测量系统低频测试能力方法技术方案

技术编号:40964686 阅读:4 留言:0更新日期:2024-04-18 20:44
本发明专利技术公开了一种提升RCS测量系统低频测试能力方法,属于雷达技术领域,该提升RCS测量系统低频测试能力方法,包括以下步骤:S1、射频调制,S2、下变频混频,S3、中频解调滤波。解决了射频调制RCS测量系统中硬件门固态开关产生的视频泄漏影响,该方法充分考虑了谐波杂散信号,交调互调信号,直漏信号等因素对测量系统动态范围的影响,有效的抑制固态开关调制视频脉冲在射频主线上的直接泄漏,大幅提高了RCS测量系统低频的测试能力和测量精度,在工程应用中具有特别的价值。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及雷达,具体为一种提升rcs测量系统低频测试能力方法。


技术介绍

1、雷达散射截面(rcs,radar cross section)测量是研究目标电磁散射特性的重要方法,研究雷达目标特征信号的主要手段有:理论计算、全尺寸目标测量、缩比目标测量和动态目标测量,目标电磁散射辐射特性数据的获取主要依靠测量法,因此测量技术在目标特性研究中具有很重要的地位,为了提升rcs测量系统测量能力,本文提出了一种基于硬件门及下变频系统提升rcs测量系统低频测试能力方法,用于去除硬件门固态开关的视频泄漏,并详细描述了系统原理,系统组成及关键技术,该系统同国内现有典型的测量系统比较,大幅提高了rcs测量系统低频的测试能力和测量精度。

2、rcs测量系统是一种电子测量仪器,用于测量目标的雷达散射截面(rcs),这种系统通常利用紧缩场技术,通过反射面将球面波在近距离转换成平面波,为目标rcs测试提供一个性能优良的平面波照射环境,同时,它可以在暗室内完成较大尺寸的产品测量,rcs测量系统的主要功能和特点包括:一维、二维高分辨率rcs测量,多维度(时域、频域、极化域)rcs测量,自动化点频、扫频测量,高精度背景对消,反射率测量,软件门/硬件门功能,二维像散射点剔除及反演,此外,rcs测量系统还可以提供在0.3ghz至40ghz频率范围内的高质量的rcs测试结果,并具有幅度锥削、幅度波纹、相位变化、交叉极化等典型指标。

3、rcs测量系统测量精度通常为1db,因此精度需要量为19db,这就需要在计算系统动态范围时,接收机的接收信号功率与系统热噪声功率之间的信噪比达到19db,由于使用pin电子开关实现硬件选通门,因此在计算上考虑脉冲占空比的减敏感作用,平均功率下降20lg(占空比),因此应在上式加上20lg(占空比),在计算信号功率中还包含功放增益,链路插损,收、发天线增益,低噪放增益、中放增益、变频损耗等,系统噪声功率计算仅考虑接收低噪放至接收机的系统链路,通过上述方式可计算出rcs测量系统的动态范围,因此提升rcs测量系统的动态范围对于目标rcs测试及隐身和反隐身性能评估是非常必要的。


技术实现思路

1、本专利技术目的在于提供一种提升rcs测量系统低频测试能力方法,本专利技术提升rcs测量系统低频测试能力方法中,有效抑制了硬件门固态开关的视频泄露,以及中频混频中的交调信号,提高了rcs测量系统的动态范围,通过下变频系统可有效的抑制固态开关调制视频脉冲在射频主线上的直接泄漏,大幅提高了rcs测量系统低频的测试能力和测量精度,在工程应用及rcs测试测量技术的研究具有特别重要的意义。

2、为了实现上述效果,本专利技术提供如下技术方案:一种提升rcs测量系统低频测试能力方法,包括以下步骤:

3、s1、射频调制。

4、s2、下变频混频。

5、s3、中频解调滤波。

6、进一步的,包括以下步骤:根据s1中的操作步骤,

7、s101、矢网源输出信号。

8、s102、射频信号调制放大输出。

9、进一步的,包括以下步骤:根据s2中的操作步骤,

10、s201、接收信号放大下混频。

11、s202、本振信号滤波。

12、进一步的,包括以下步骤:根据s3中的操作步骤,

13、s301、中频信号放大。

14、s302、中频信号解调。

15、s303、中频信号滤波。

16、s304、接收机接收信号输出显示。

17、进一步的,包括以下步骤:根据s1中的操作步骤,所述矢量网络分析仪发射射频信号及本振信号。

18、进一步的,包括以下步骤:根据s1中的操作步骤,所述射频路径上使用固态开关对射频连续波信号进行脉冲调制。

19、进一步的,包括以下步骤:根据s2中的操作步骤,所述射频信号通过混频器下变频至中频信号,中频信号选择非视频泄漏重频频率,通过频谱仪查看输出信号的频谱。

20、进一步的,包括以下步骤:根据s1中的操作步骤,所述频谱包含本振直漏信号,视频泄漏信号,谐波及交调信号,考虑杂散信号对系统的影响。

21、进一步的,包括以下步骤:根据s3中的操作步骤,所述通过设置接收中频固态开关脉冲延时接收信号,选用带通滤波器对接收信号中的杂散频谱进行滤波。

22、进一步的,包括以下步骤:根据s1中的操作步骤,所述通滤波器逐级测量各端口输出功率及系统动态范围,优化端口阻抗匹配,实测功率及动态范围同计算进行验证比对。

23、本专利技术提供了一种提升rcs测量系统低频测试能力方法,具备以下有益效果:该提升rcs测量系统低频测试能力方法,本专利技术提升rcs测量系统低频测试能力方法中,有效抑制了硬件门固态开关的视频泄露,以及中频混频中的交调信号,提高了rcs测量系统的动态范围,通过下变频系统可有效的抑制固态开关调制视频脉冲在射频主线上的直接泄漏,大幅提高了rcs测量系统低频的测试能力和测量精度,在工程应用及rcs测试测量技术的研究具有特别重要的意义。

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【技术保护点】

1.一种提升RCS测量系统低频测试能力方法,其特征在于,包括以下步骤:

2.据权利要求1所述的一种提升RCS测量系统低频测试能力方法,其特征在于,包括以下步骤:根据S1中的操作步骤,

3.据权利要求1所述的一种提升RCS测量系统低频测试能力方法,其特征在于,包括以下步骤:根据S2中的操作步骤,

4.据权利要求1所述的一种提升RCS测量系统低频测试能力方法,其特征在于,包括以下步骤:根据S3中的操作步骤,

5.据权利要求4所述的一种提升RCS测量系统低频测试能力方法,其特征在于,包括以下步骤:根据S1中的操作步骤,所述矢量网络分析仪发射射频信号及本振信号。

6.据权利要求5所述的一种提升RCS测量系统低频测试能力方法,其特征在于,包括以下步骤:根据S1中的操作步骤,所述射频路径上使用固态开关对射频连续波信号进行脉冲调制。

7.据权利要求6所述的一种提升RCS测量系统低频测试能力方法,其特征在于,包括以下步骤:根据S2中的操作步骤,所述射频信号通过混频器下变频至中频信号,中频信号选择非视频泄漏重频频率,通过频谱仪查看输出信号的频谱。

8.据权利要求7所述的一种提升RCS测量系统低频测试能力方法,其特征在于,包括以下步骤:根据S2中的操作步骤,所述频谱包含本振直漏信号,视频泄漏信号,谐波及交调信号,考虑杂散信号对系统的影响。

9.据权利要求8所述的一种提升RCS测量系统低频测试能力方法,其特征在于,包括以下步骤:根据S3中的操作步骤,所述通过设置接收中频固态开关脉冲延时接收信号,选用带通滤波器对接收信号中的杂散频谱进行滤波。

10.据权利要求9所述的一种提升RCS测量系统低频测试能力方法,其特征在于,包括以下步骤:根据S3中的操作步骤,所述通滤波器逐级测量各端口输出功率及系统动态范围,优化端口阻抗匹配,实测功率及动态范围同计算进行验证比对。

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【技术特征摘要】

1.一种提升rcs测量系统低频测试能力方法,其特征在于,包括以下步骤:

2.据权利要求1所述的一种提升rcs测量系统低频测试能力方法,其特征在于,包括以下步骤:根据s1中的操作步骤,

3.据权利要求1所述的一种提升rcs测量系统低频测试能力方法,其特征在于,包括以下步骤:根据s2中的操作步骤,

4.据权利要求1所述的一种提升rcs测量系统低频测试能力方法,其特征在于,包括以下步骤:根据s3中的操作步骤,

5.据权利要求4所述的一种提升rcs测量系统低频测试能力方法,其特征在于,包括以下步骤:根据s1中的操作步骤,所述矢量网络分析仪发射射频信号及本振信号。

6.据权利要求5所述的一种提升rcs测量系统低频测试能力方法,其特征在于,包括以下步骤:根据s1中的操作步骤,所述射频路径上使用固态开关对射频连续波信号进行脉冲调制。

7.据权利要求6所述的一种提升r...

【专利技术属性】
技术研发人员:孔德旺孙良奎肖雪唐代云
申请(专利权)人:成都雷谱特科技有限公司
类型:发明
国别省市:

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