【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及仿真测试,具体涉及一种覆盖率的收集方法、装置、计算机设备和存储介质。
技术介绍
1、覆盖率收集工作面临多重挑战。数据收集复杂度高,要求验证人员深谙电路知识,具备丰富验证经验,以设计全面覆盖边界情况的测试用例,并且,在对收集的覆盖率分析后再进行测试用例的调整,会延长整体的测试周期。
2、因此,如何对测试用例进行调整优化,是覆盖率的收集过程中亟待解决的技术问题。
技术实现思路
1、有鉴于此,本专利技术提供了一种覆盖率的收集方法、装置、计算机设备和存储介质,以解决如何对测试用例进行调整优化的问题。
2、第一方面,本专利技术提供了一种覆盖率的收集方法,上述方法包括:
3、获取多个测试用例测试硬件电路后得到的m个覆盖率,以及n个不同类型的预期覆盖率,m≥2,n≥2且m、n为正整数;上述多个测试用例按照第一顺序排序;
4、将上述m个覆盖率划分为n个类型,每个上述类型包括至少一个覆盖率;
5、确定每个上述类型中的最大覆盖率,得到n
...【技术保护点】
1.一种覆盖率的收集方法,其特征在于,所述方法包括:
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述第一顺序排序为多个测试用例按照优先级从高到低排序;
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,根据所述M个覆盖率和所述N个类型的预期覆盖率,生成M个误差率,包括:
4.根据权利要求2或3所述的方法,其特征在于,对所述多个测试用例重新排序,得到第二顺序排序的多个测试用例,包括:
5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,在得到第二排序的多个测试用例之后,还包括:
6.根据权利要求1至3任一项所述的方法,其特征在于
...【技术特征摘要】
1.一种覆盖率的收集方法,其特征在于,所述方法包括:
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述第一顺序排序为多个测试用例按照优先级从高到低排序;
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,根据所述m个覆盖率和所述n个类型的预期覆盖率,生成m个误差率,包括:
4.根据权利要求2或3所述的方法,其特征在于,对所述多个测试用例重新排序,得到第二顺序排序的多个测试用例,包括:
5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,在得到第二排序的多个测试用例之后,还包括:
6...
【专利技术属性】
技术研发人员:孟阳,刘世伟,姚香君,董艳,张梦柯,罗迪,
申请(专利权)人:山东云海国创云计算装备产业创新中心有限公司,
类型:发明
国别省市:
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