一种覆盖率的收集方法、装置、计算机设备和存储介质制造方法及图纸

技术编号:45156748 阅读:28 留言:0更新日期:2025-05-06 18:12
本发明专利技术涉及仿真测试技术领域,公开了一种覆盖率的收集方法、装置、计算机设备和存储介质,方法包括:获取多个测试用例测试硬件电路的覆盖率和N个预期覆盖率;覆盖率划分为N个类型;确定每个类型中的最大覆盖率,得到N个最大覆盖率;将N个最大覆盖率与对应的N个预期覆盖率进行比较,判断N个最大覆盖率是否满足预设条件;如果否,则对多个测试用例重新排序,得到第二排序的多个测试用例;基于第二排序的多个测试用例测试硬件电路,以得到第二排序的多个测试用例对应的多个覆盖率,并迭代硬件电路的覆盖率测试,直至生成的多个覆盖率达到预设条件时为止。从而实现了在覆盖率测试过程中对测试用例进行动态调整优化的技术效果。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及仿真测试,具体涉及一种覆盖率的收集方法、装置、计算机设备和存储介质


技术介绍

1、覆盖率收集工作面临多重挑战。数据收集复杂度高,要求验证人员深谙电路知识,具备丰富验证经验,以设计全面覆盖边界情况的测试用例,并且,在对收集的覆盖率分析后再进行测试用例的调整,会延长整体的测试周期。

2、因此,如何对测试用例进行调整优化,是覆盖率的收集过程中亟待解决的技术问题。


技术实现思路

1、有鉴于此,本专利技术提供了一种覆盖率的收集方法、装置、计算机设备和存储介质,以解决如何对测试用例进行调整优化的问题。

2、第一方面,本专利技术提供了一种覆盖率的收集方法,上述方法包括:

3、获取多个测试用例测试硬件电路后得到的m个覆盖率,以及n个不同类型的预期覆盖率,m≥2,n≥2且m、n为正整数;上述多个测试用例按照第一顺序排序;

4、将上述m个覆盖率划分为n个类型,每个上述类型包括至少一个覆盖率;

5、确定每个上述类型中的最大覆盖率,得到n个最大覆盖率;...

【技术保护点】

1.一种覆盖率的收集方法,其特征在于,所述方法包括:

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述第一顺序排序为多个测试用例按照优先级从高到低排序;

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,根据所述M个覆盖率和所述N个类型的预期覆盖率,生成M个误差率,包括:

4.根据权利要求2或3所述的方法,其特征在于,对所述多个测试用例重新排序,得到第二顺序排序的多个测试用例,包括:

5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,在得到第二排序的多个测试用例之后,还包括:

6.根据权利要求1至3任一项所述的方法,其特征在于,在得到第二排序的多...

【技术特征摘要】

1.一种覆盖率的收集方法,其特征在于,所述方法包括:

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述第一顺序排序为多个测试用例按照优先级从高到低排序;

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,根据所述m个覆盖率和所述n个类型的预期覆盖率,生成m个误差率,包括:

4.根据权利要求2或3所述的方法,其特征在于,对所述多个测试用例重新排序,得到第二顺序排序的多个测试用例,包括:

5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,在得到第二排序的多个测试用例之后,还包括:

6...

【专利技术属性】
技术研发人员:孟阳刘世伟姚香君董艳张梦柯罗迪
申请(专利权)人:山东云海国创云计算装备产业创新中心有限公司
类型:发明
国别省市:

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