基于Zernike正交矩和哈希算法的缺陷检测方法技术

本发明专利技术属于缺陷检测领域，尤其涉及基于Zernike正交矩和哈希算法的缺陷检测方法。本发明专利技术目的是解决现有电子元件点胶缺陷检测技术的检测效率低的问题。本发明专利技术建立了一种模糊集合实现图像增强的方式，在突出感兴趣区域的同时也能保障信息的完整。针对不同胶体缺陷，考虑采用不同检测方法以及检测区域来进行判断。通过Zernike正交矩的方法，得到点胶槽内外两侧的检测区域，用图像的哈希替代原图进行计算可以有效地减少计算时间。同时在平均哈希算法的基础上建立一种通过逼近减少待匹配区域面积的算法可以有效地减少匹配计算所需要的时间，再结合零均值归一化积相关算法可以极大的提高运算效率，提高了电子元件点胶缺陷检测的效率。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于缺陷检测领域，尤其涉及基于zernike正交矩和哈希算法的缺陷检测方法。

技术介绍

1、随着半导体和电子产业的快速发展，制造业对生产效率和精度的要求不断提高，传统依赖人工操作的生产模式已经无法满足当前需求。人工操作容易产生误差，影响生产精度。机器视觉技术的出现解决了这一问题，它能实时检测和分类不同类型的产品，减少因疲劳或环境因素对人工的影响。

2、机器视觉技术不仅在工业生产中广泛应用，能进行细节和缺陷检测，还在农业、医学和军事等领域发挥重要作用。在电子元件制造中，点胶工艺至关重要，涉及uv胶、导热胶等材料的精准涂抹。点胶过程中的胶体量过多或过少都会影响产品性能，造成质量误差。传统的人工检测存在范围有限和误判问题，而机器视觉可以高效且精确地检测点胶缺陷，提升生产质量和效率。

3、针对点胶电子元件缺陷，包括但不限于胶水不均匀、胶水流动不畅、胶水固化不完全等，由于点胶存在不均匀的情况，点胶电子元件会出现胶体薄厚不均匀以及存在细小孔洞及缝隙的情况，因此电子元件点胶缺陷检测方法在图像增强的过程，会造成图像信息的丢失，为了解决图像本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.基于Zernike正交矩和哈希算法的缺陷检测方法，其特征在于，包括以下步骤：

2.根据权利要求1所述的基于Zernike正交矩和哈希算法的缺陷检测方法，其特征在于，

3.根据权利要求2所述的基于Zernike正交矩和哈希算法的缺陷检测方法，其特征在于，

4.根据权利要求3所述的基于Zernike正交矩和哈希算法的缺陷检测方法，其特征在于，所述2.1.2中对双边滤波后的无点胶原件图像进行图像增强处理，得到增强后的无点胶原件图像；对双边滤波后的点胶原件图像进行图像增强处理，得到增强后的点胶原件图像；具体过程为：

5.根据权利要求4所述的基于...

【技术特征摘要】

1.基于zernike正交矩和哈希算法的缺陷检测方法，其特征在于，包括以下步骤：

2.根据权利要求1所述的基于zernike正交矩和哈希算法的缺陷检测方法，其特征在于，

3.根据权利要求2所述的基于zernike正交矩和哈希算法的缺陷检测方法，其特征在于，

4.根据权利要求3所述的基于zernike正交矩和哈希算法的缺陷检测方法，其特征在于，所述2.1.2中对双边滤波后的无点胶原件图像进行图像增强处理，得到增强后的无点胶原件图像；对双边滤波后的点胶原件图像进行图像增强处理，得到增强后的点胶原件图像；具体过程为：

5.根据权利...

【专利技术属性】
技术研发人员：李东洁，张宇，顾瑞益，张富越，徐东昊，杨柳，王雪莹，邓立为，于智龙，
申请(专利权)人：哈尔滨理工大学，
类型：发明
国别省市：