【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及测试夹具，具体为一种微带器件用测试夹具。
技术介绍
1、在微波器件生产环节中，通常性能测试作为最终检验环节，所以性能测试装置显得尤为重要，目前在微带环行隔离器性能装置中，大多采用测试接头与同轴线焊接，同轴线中的圆形内导体与微带环行隔离器覆金层电路节点通过压接接触进行测试，现有测试方式存在如下问题：首先内导体与微带线压接接触易划伤覆金层从而影响最终产品外观，其次现有测试方式采用同轴线连接与实际产品运用环境匹配度相差较大，导致微带环行隔离器性能指标偏差较大不能满足实际使用需求。
2、另外在其他微带环行隔离器性能测试装置中，采用测试接头与金属弹片焊接，金属弹片通过压接接触测试，此种方式金属弹片使用寿命短且接触处存在平面度误差，也导致微带环行隔离器性能指标偏差较大不能满足实际需求。
技术实现思路
1、本专利技术的目的在于克服现有技术的不足，提供一种微带器件用测试夹具，用于解决现有技术的不足。
2、本专利技术的目的是通过以下技术方案来实现的：一种微带器件用测试夹...
【技术保护点】
1.一种微带器件用测试夹具，包括安装平台(1)，其特征在于，所述安装平台(1)上设置有垂直位置调节组件，所述垂直位置调节组件包括测试平台(3)，所述测试平台(3)具有沿所述安装平台(1)高度方向移动的自由度，所述安装平台(1)上围绕所述垂直位置调节组件设置有多个位置调节器(2)，所述位置调节器(2)包括调节平台(4)和无损测试压接夹具，所述调节平台(4)具有靠近或远离所述测试平台(3)水平移动的自由度，所述无损测试压接夹具在所述调节平台(4)上的安装位置可调，所述无损测试压接夹具包括底座(5)、上盖(6)、测试压块(7)、测试探头(8)和测试工装板(9)，所述底座(5...
【技术特征摘要】
1.一种微带器件用测试夹具，包括安装平台(1)，其特征在于，所述安装平台(1)上设置有垂直位置调节组件，所述垂直位置调节组件包括测试平台(3)，所述测试平台(3)具有沿所述安装平台(1)高度方向移动的自由度，所述安装平台(1)上围绕所述垂直位置调节组件设置有多个位置调节器(2)，所述位置调节器(2)包括调节平台(4)和无损测试压接夹具，所述调节平台(4)具有靠近或远离所述测试平台(3)水平移动的自由度，所述无损测试压接夹具在所述调节平台(4)上的安装位置可调，所述无损测试压接夹具包括底座(5)、上盖(6)、测试压块(7)、测试探头(8)和测试工装板(9)，所述底座(5)安装在所述调节平台(4)上，所述上盖(6)通过螺钉连接所述底座(5)，所述底座(5)的顶面延伸出测试平面，所述测试工装板(9)固定在所述测试平面上，所述测试探头(8)安装在所述上盖(6)上，所述测试压块(7)固定在所述测试探头(8)上，所述测试压块(7)位于所述测试工装板(9)的上方，所述测试压块(7)采用非金属材料制成，所述测试压块(7)的底部形成有弧形接触面(10)，所述弧形接触面(10)上镀金属导电层，所述测试探头(8)用于带动所述测试压块(7)的弧形接触面(10)靠近或远离所述测试工装板(9)移动。
2.根据权利要求1所述的一种微带器件用测试夹具，其特征在于，所述底座(5)上设置有测试接头(12)，所述底座(5)的顶面与上盖(6)的底面均开设有半圆形凹槽，两个所述半圆形凹槽形成圆形凹槽，所述圆形凹槽内嵌设有圆形内导体(11)，所述圆形内导体(11)的一端与所述测试工装板(9)焊接，另一端与所述测试接头(12)连接。
3.根据权利要求2所述的一种微带器件用测试夹具，其特征在于，所述无损测试压接夹具还包括转动臂(13)，所述转动臂(13)上偏心转动连接有第一转动轴(14)，所述第一转动轴(14)固定连接所述上盖(6)，所述测试探头(8)上固定连接有第二转动轴(15)，所述第二转动轴(15)转动连接所述转动臂(13)，在所述转动臂(13)的偏转安装下，使所述测试探头(8)能在重力下向下偏转，所述第一转动轴(14)与转动臂(13)之间、第二转动轴(15)与转动臂(13)之间均设置有转动轴承(16)。
4.根据权利要求3所述的一种微带器件用测试夹具，其特征在于，所述转动臂(13)靠近所述测试探头(8)的端面固定有限位凸台(17)，所述限位凸台(17)接触...
【专利技术属性】
技术研发人员：犹香玉，周克宏，段树彬，
申请(专利权)人：成都八九九科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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