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一种光学器件、光学器件的制备方法及偏振测量装置制造方法及图纸

技术编号:45091786 阅读:19 留言:0更新日期:2025-04-25 18:27
本发明专利技术公开了一种光学器件、光学器件的制备方法及偏振测量装置。光学器件包括层叠设置的第一液晶盒和第二液晶盒;第一液晶盒包括第一基板、第二基板以及第一液晶层,第一取向层和第二取向层控制第一液晶层中液晶分子的排列方向;第二液晶盒包括第三基板、第四基板以及第二液晶层,第三取向层和第四取向层控制第二液晶层中液晶分子的排列方向;第一取向层和第二取向层编码了q=‑0.5的涡旋相位,第三取向层和第四取向层编码了光栅的几何相位。本发明专利技术提供的光学器件可以克服传统偏振测试器件测试波段窄、不够紧凑等局限性,实现了覆盖可见光到近红外的偏振检测,并构建了一种图像形式的偏振分析方式。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及光学,尤其涉及一种光学器件、光学器件的制备方法及偏振测量装置


技术介绍

1、偏振是电磁波的矢量性质,描述了电场的电分量振荡的方向,在光学中起着至关重要的作用。偏振态(sop)决定了光与各向异性、手性和磁化物质的相互作用,从而构成了诸如偏振光谱学、椭圆偏振测量法、传感和成像等多种光学技术的基础。

2、偏振测量最直接的方法是同时检测两个正交偏振态之间的振幅对比度和相位。然而,捕获相位信息的困难使得直接测量偏振极具挑战。传统方法通常使用空间光束分裂技术(空间分割)或旋转波片(时间分割)进行一系列强度测量。因此,通常需要复杂的光学装置,这些装置需要精确调整,使得解决方案体积庞大且耗时。此外,由于诸如波片等单独元件的窄带限制,传统偏振计的宽带可行性受到极大阻碍。同时,目前已有的商业的偏振相机很难实现手性的测量。在现代光学和信息学中,迫切需要探索用于偏振检测的紧凑、高速和宽带可用的偏振测量法。


技术实现思路

1、本专利技术实施例提供了一种光学器件、光学器件的制备方法及偏振测量装置,该光学器件可本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种光学器件,其特征在于,包括层叠设置的第一液晶盒和第二液晶盒;

2.根据权利要求1所述的光学器件,其特征在于,偏振光束入射至所述光学器件,所述第一液晶盒用于表征圆偏振光的相位差,所述第二液晶盒用于表征圆偏振光的振幅比,根据衍射图案揭示正交圆偏振光的振幅比和位相差,以确定入射偏振光束的偏振态。

3.根据权利要求1所述的光学器件,其特征在于,所述第一基板、所述第二基板、所述第三基板和所述第四基板均包括光透过率大于或等于85%的柔性基板或刚性基板。

4.根据权利要求1所述的光学器件,其特征在于,所述第一液晶盒还包括设置于所述第一基板一侧的第一电极层和设...

【技术特征摘要】

1.一种光学器件,其特征在于,包括层叠设置的第一液晶盒和第二液晶盒;

2.根据权利要求1所述的光学器件,其特征在于,偏振光束入射至所述光学器件,所述第一液晶盒用于表征圆偏振光的相位差,所述第二液晶盒用于表征圆偏振光的振幅比,根据衍射图案揭示正交圆偏振光的振幅比和位相差,以确定入射偏振光束的偏振态。

3.根据权利要求1所述的光学器件,其特征在于,所述第一基板、所述第二基板、所述第三基板和所述第四基板均包括光透过率大于或等于85%的柔性基板或刚性基板。

4.根据权利要求1所述的光学器件,其特征在于,所述第一液晶盒还包括设置于所述第一基板一侧的第一电极层和设置于所述第二基板一侧的第二电极层;

5.根据权利要求1所述的光学器件,其特征在于,所述第一取向层、所述第二取向层、所述第三取向层和所述第四取向层的材料包括光交联材料、光降解材料和光致顺反异构...

【专利技术属性】
技术研发人员:胡伟王光耀徐春庭陆延青
申请(专利权)人:南京大学
类型:发明
国别省市:

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