一种材料热导率测量装置制造方法及图纸

技术编号:45085820 阅读:66 留言:0更新日期:2025-04-25 18:23
本技术提供了一种材料热导率测量装置,所述测量装置包括:依次连接的电源、继电器、加热模块、热探头、温度采集模块和微处理器模块,以及上位机,其中,继电器包括第一继电器和第二继电器,分别与第一加热模块和第二加热模块连接;热探头包括热针和热平面,分别与第一加热模块和第二加热模块相连;微处理器模块分别与第一继电器和第二继电器连接;上位机与微处理器模块相连。本技术提供的材料热导率测量装置通过结合热针法和热平面法,测量范围覆盖粉末、块状、粘稠液体和生物组织等多种材料,且可通过两种方法直接验证测量结果,研究同种材料的不同性状的差别,有效提高了测量效率。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及材料热物性测试,具体的,涉及一种材料热导率测量装置


技术介绍

1、热导率是材料热物理性质的重要参数之一,代表了材料传热性能的强弱。目前测量材料热导率的方法主要分为稳态法和瞬态法,稳态法往往测定时间较长,对测量系统的绝热条件要求较高,制作的成本相对较高。常用的瞬态测量方法有热针法和热平面法,分别基于一维无限长线热探头理论和平面热探头理论,但对于形态、性质各异的各种材料,根据一种测量方法做成的装置,测量的材料范围十分有限。因此,提供一种测量材料范围大、测量时间短、成本低的材料热导率测量装置具有重要意义。


技术实现思路

1、针对现有技术中存在的不足,本技术的目的在于解决上述现有技术中存在的一个或多个问题。例如,本技术的目的之一在于提供一种结合热针法和热平面法、测量材料范围大、测量时间短、成本低的材料热导率测量装置。

2、为了实现上述目的,本技术提供了一种材料热导率测量装置,所述测量装置可包括:依次连接的电源、继电器、加热模块、热探头、温度采集模块和微处理器模块,以及上位机,其中,继电器包括第本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种材料热导率测量装置,其特征在于,所述测量装置包括:依次连接的电源、继电器、加热模块、热探头、温度采集模块和微处理器模块,以及上位机,其中,

2.根据权利要求1所述的材料热导率测量装置,其特征在于,所述电源包括加热电源,能够对热探头进行加热。

3.根据权利要求1所述的材料热导率测量装置,其特征在于,所述加热模块能够提供可调节的加热电流。

4.根据权利要求3所述的材料热导率测量装置,其特征在于,所述加热模块能够提供小于和/或等于1A的电流,精确度包括1mA。

5.根据权利要求1所述的材料热导率测量装置,其特征在于,所述热针和热平面均包括...

【技术特征摘要】

1.一种材料热导率测量装置,其特征在于,所述测量装置包括:依次连接的电源、继电器、加热模块、热探头、温度采集模块和微处理器模块,以及上位机,其中,

2.根据权利要求1所述的材料热导率测量装置,其特征在于,所述电源包括加热电源,能够对热探头进行加热。

3.根据权利要求1所述的材料热导率测量装置,其特征在于,所述加热模块能够提供可调节的加热电流。

4.根据权利要求3所述的材料热导率测量装置,其特征在于,所述加热模块能够提供小于和/或等于1a的电流,精确度包括1ma。

5.根据权利要求1所述的材料热导率测量装置,其特征在于,所述热针和热平面均包括电热丝、热电偶和外壳。

6.根据权利要求1所述的材料热导率测量...

【专利技术属性】
技术研发人员:陈思宇郭茂林刘超远廖思岚李蕊
申请(专利权)人:西南科技大学
类型:新型
国别省市:

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