【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于三维芯片结构分析领域,具体涉及一种基于长方体网格的超奇异体积分求解方法。
技术介绍
1、封装和测试是三维集成电路芯片设计与制造的重要环节。随着三维集成电路设计日益复杂,其中的金属-介质混合结构往往具有多尺度特征,这对电磁分析算法提出了更高要求。准确提取这类结构中的寄生参数等关键数据,需要采用更加先进的电磁算法进行精确分析。
2、在现有技术中,矩量法(method of moments,mom)是一种广泛使用的电磁分析方法。然而,传统矩量法依赖于共形网格对目标表面进行剖分和拟合。在处理具有多尺度特征的模型时,这种对共形网格的依赖会导致过渡区出现过密或者畸形网格,增加了网格生成的计算时间和存储开销。
3、相比之下,nystrom方法具有对网格要求更低的优势。在使用体-面积分方程(volume-surface integral equations,vsies)建模并采用nystrom方法或者mom-nystrom混合方法求解时,可以使用非共形网格对目标区域进行剖分。中国专利cn119089858a公开了一
...【技术保护点】
1.一种基于长方体网格的超奇异体积分求解方法,其特征在于,包括步骤:
2.如权利要求1所述的一种基于长方体网格的超奇异体积分求解方法,其特征在于,所述步骤1包括;
3.如权利要求2所述的一种基于长方体网格的超奇异体积分求解方法,其特征在于,所述步骤2包括;
4.如权利要求3所述的一种基于长方体网格的超奇异体积分求解方法,其特征在于,所述步骤3包括;
5.如权利要求4所述的一种基于长方体网格的超奇异体积分求解方法,其特征在于,所述步骤3包括;
【技术特征摘要】
1.一种基于长方体网格的超奇异体积分求解方法,其特征在于,包括步骤:
2.如权利要求1所述的一种基于长方体网格的超奇异体积分求解方法,其特征在于,所述步骤1包括;
3.如权利要求2所述的一种基于长方体网格的超奇异体积分求解...
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。