System.ArgumentOutOfRangeException: 索引和长度必须引用该字符串内的位置。 参数名: length 在 System.String.Substring(Int32 startIndex, Int32 length) 在 zhuanliShow.Bind() 光学特性测定系统及光学特性测定方法技术方案_技高网

光学特性测定系统及光学特性测定方法技术方案

技术编号:44974932 阅读:18 留言:0更新日期:2025-04-12 01:50
本公开的光学特性测定系统具备:光源,能够使脉冲光入射到多芯光纤的第一纤芯;光接收器,能够接收来自多芯光纤的第二纤芯的第二后向散射光;以及运算装置,至少基于第二后向散射光的光强度计算后向散射串扰指标。运算装置包括:数据处理部,与从一端起到测定位置为止的各位置相对应地获取光接收器接收到的各时刻下的第二后向散射光的光强度;以及运算处理部,计算包括积分值与损耗值之比的项作为后向散射串扰指标,损耗值表示光在第一纤芯中从一端移动到测定位置时多芯光纤的传输损耗,积分值是对从一端起到测定位置为止的第二纤芯的各位置所对应的第二后向散射光的光强度进行积分而得到的。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】

本公开涉及光学特性测定系统及光学特性测定方法。本申请要求以2022年9月7日申请的日本申请第2022-141933号为基础的优先权,并在此援引所述日本申请中记载的全部记载内容。


技术介绍

1、已知在具有多个纤芯的多芯光纤中会在多个纤芯之间产生串扰。例如,专利文献1、非专利文献1及非专利文献2公开了测定这样的串扰的方法。在这些方法中,一台或多台otdr(optical time domain reflectometer:光时域反射仪)装置与多芯光纤的单端连接,脉冲试验光从该单端入射到多芯光纤的一个纤芯。然后,在多个纤芯中由于后向散射而回到该单端的后向散射光输入到otdr装置,基于这些后向散射光的强度来测定串扰。

2、现有技术文献

3、专利文献

4、专利文献1:日本特开2012-202827号公报

5、非专利文献

6、非专利文献1:m.nakazawa,at al.,“nondestructive measurement of modecouplings along a multi-corefiber using a synchronous multi-channel otdr”,opt.express,vol.20,no.11,pp.12530-12540(2012).

7、非专利文献2:a.nakamura,at al.,“optical time domain reflectometry forsimultaneously characterizingforward and backward crosstalk along multi-corefibers”,ieee,journal of lightwave technology,pp.1-7(2022).

8、非专利文献3:recommendation itu-tg.650.1,“definitions and test methodsfor linear,deterministic attributes ofsingle-mode fibre and cable”,(2020).


技术实现思路

1、本公开的一实施方式所涉及的光学特性测定系统是测定至少具有第一纤芯及第二纤芯的多芯光纤的光学特性的光学特性测定系统。该光学特性测定系统具备:至少一个光源,与第一纤芯光学耦合,能够使脉冲光从多芯光纤的一端入射到第一纤芯;至少一个光接收器,至少与第二纤芯光学耦合,能够接收随着脉冲光入射到第一纤芯而分别从一端的第一纤芯及第二纤芯射出的第一后向散射光及第二后向散射光中的至少第二后向散射光;以及运算装置,以能够通信的方式与光接收器连接,至少基于第二后向散射光的光强度计算后向散射串扰指标,后向散射串扰指标表示与作为脉冲光的一部分从第一纤芯移动到第二纤芯并返回到一端的第二后向散射光的光强度相关的后向散射串扰。运算装置包括:数据处理部,与从一端起到多芯光纤的沿着长度方向的任意的测定位置为止的各位置相对应地获取光接收器接收到的各时刻下的第二后向散射光的光强度;以及运算处理部,计算包括积分值与损耗值之比的项作为后向散射串扰指标,损耗值表示光在第一纤芯中从一端移动到测定位置时多芯光纤的传输损耗,积分值是对从一端起到测定位置为止的第二纤芯的各位置所对应的第二后向散射光的光强度进行积分而得到的。

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【技术保护点】

1.一种光学特性测定系统,测定至少具有第一纤芯及第二纤芯的多芯光纤的光学特性,所述光学特性测定系统具备:

2.根据权利要求1所述的光学特性测定系统,其中,

3.根据权利要求1或2所述的光学特性测定系统,其中,

4.根据权利要求3所述的光学特性测定系统,其中,

5.根据权利要求2所述的光学特性测定系统,其中,

6.根据权利要求5所述的光学特性测定系统,其中,

7.根据权利要求2至6中任一项所述的光学特性测定系统,其中,

8.根据权利要求1至7中任一项所述的光学特性测定系统,其中,

9.一种光学特性测定方法,使用光学特性测定系统,所述光学特性测定系统测定至少具有第一纤芯及第二纤芯的多芯光纤的光学特性,所述光学特性测定方法具备:

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】

1.一种光学特性测定系统,测定至少具有第一纤芯及第二纤芯的多芯光纤的光学特性,所述光学特性测定系统具备:

2.根据权利要求1所述的光学特性测定系统,其中,

3.根据权利要求1或2所述的光学特性测定系统,其中,

4.根据权利要求3所述的光学特性测定系统,其中,

5.根据权利要求2所述的光学特性测定系统,其中,

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【专利技术属性】
技术研发人员:小林优斗长谷川健美林哲也
申请(专利权)人:住友电气工业株式会社
类型:发明
国别省市:

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