【技术实现步骤摘要】
本申请涉及图像处理，特别是涉及一种缺陷检测方法、装置、计算机设备、计算机可读存储介质。
技术介绍
1、在泛半导体等领域，为了保证生产得到的产品质量，需要对产品进行缺陷检测。通常情况下，可以采集产品的图像，并通过机器视觉技术对图像进行处理识别，确定产品是否存在缺陷。
2、相关技术中，在产品的图像对应为规律周期性图案时，可以通过邻域五点比较法，对图像的灰度值进行比较，确定偏离正常灰度值的点为缺陷点。然而，通过这种方法，在比较的点中存在多个灰度值异常时，容易导致误判，无法准确识别缺陷，识别准确率较差。
技术实现思路
1、基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种能够提高识别准确率的缺陷检测方法、装置、计算机设备、计算机可读存储介质和计算机程序产品。
2、第一方面，本申请提供了一种缺陷检测方法，包括：
3、获取待检测对象对应的灰度图像，并在所述灰度图像的预设检测范围内，确定多个目标像素点，所述目标像素点中包括待检测像素点和参考像素点；
4、根据每个所述...
【技术保护点】
1.一种缺陷检测方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述确定所述待检测像素点对应的图像特征值，包括：
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据所述待检测像素点对应的多个初始特征值，确定所述待检测像素点对应的图像特征值，包括：
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据每个所述目标像素点和对应的邻域像素点之间的关联关系，确定所述多个目标像素点对应的参考特征值，包括：
5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述根据所述不同特征维度的多个数据特征值，确定参考特征值，
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【技术特征摘要】
1.一种缺陷检测方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述确定所述待检测像素点对应的图像特征值，包括：
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据所述待检测像素点对应的多个初始特征值，确定所述待检测像素点对应的图像特征值，包括：
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据每个所述目标像素点和对应的邻域像素点之间的关联关系，确定所述多个目标像素点对应的参考特征值，包括：
5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述根据所述不同特征维度的多个数据特征值，确定参考特征值，包括：
6.根据...
【专利技术属性】
技术研发人员：王彬，王玉栋，黄益民，
申请(专利权)人：华兴源创深圳科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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