一种基于概率模型与光流的烟幕可见光遮蔽面积测量方法技术

本发明专利技术提供了一种基于概率模型与光流的烟幕可见光遮蔽面积测量方法，针对现有可见光烟幕测量方法测试设备复杂、对光照和场景的要求比较高、容易受到干扰、忽视了图像中局部灰度结构等问题，结合了概率模型与光流法，对场景中的烟幕遮蔽区域进行智能化识别提取。本发明专利技术基于计算机视觉算法提取烟幕遮蔽区域，操作简单，无需标杆等额外的辅助测量设备；采用了稳定丰富的图像特征，鲁棒性高，不易受到光照变化和场景的影响；采用光流法估计了图像的局部灰度结构变化，具备准确评估烟幕遮蔽效果的能力。对于大面积烟幕测量任务，本发明专利技术经济易行，能够满足任务需求，具有较大应用价值。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及烟幕对可见光波段遮蔽效果测试评估，具体涉及一种基于概率模型与光流的烟幕可见光遮蔽面积测量方法。

技术介绍

1、传统的可见光烟幕遮蔽性能测量方法采用计算烟幕对比度的方法。公告号为cn106840397b的中国专利技术专利以标杆作为背景参照物，通过差分计算对比前景区域与背景区域，获取烟幕对比度。但是差分法依赖标杆等辅助测量设备，对光照和场景的要求也比较高，容易受到光照变化和场景的影响，难以满足大面积烟幕测量外场试验需求。同时，差分法考虑的都是单点或者多个点平均灰度的变化，忽视了图像局部灰度结构的变化，而这种明暗模式产生的结构对于目标识别至关重要。

2、因此，为了满足大面积烟幕测量外场试验需求，亟需一种新的无需额外辅助测量设备、鲁棒性好、结果准确的可见光烟幕性能测量方法。

技术实现思路

1、本专利技术的目的是对现有可见光烟幕测量方法测试设备复杂、对光照和场景的要求比较高、容易受到干扰、忽视了图像中局部灰度结构等问题，提出了一种新的无需额外辅助测量设备、鲁棒性好、结果准确的基于概率模型与光流本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种基于概率模型与光流的烟幕可见光遮蔽面积测量方法，其特征在于，包括以下步骤：

2.根据权利要求1所述的基于概率模型与光流的烟幕可见光遮蔽面积测量方法，其特征在于：所述步骤S1中，使用无烟幕遮挡图像拟合各像素位置无烟背景像素灰度概率分布的步骤，包括如下：

3.根据权利要求1所述的基于概率模型与光流的烟幕可见光遮蔽面积测量方法，其特征在于：所述步骤S2中，使用快速光流算法计算图像的稠密光流场的步骤，包括如下：

4.根据权利要求1所述的基于概率模型与光流的烟幕可见光遮蔽面积测量方法，其特征在于：所述步骤S3中，利用光流信息标记图像中的烟幕像素的步骤，包...

【技术特征摘要】

1.一种基于概率模型与光流的烟幕可见光遮蔽面积测量方法，其特征在于，包括以下步骤：

2.根据权利要求1所述的基于概率模型与光流的烟幕可见光遮蔽面积测量方法，其特征在于：所述步骤s1中，使用无烟幕遮挡图像拟合各像素位置无烟背景像素灰度概率分布的步骤，包括如下：

3.根据权利要求1所述的基于概率模型与光流的烟幕可见光遮蔽面积测量方法，其特征在于：所述步骤s2中，使用快速光流算法计算图像的稠密光流场的步骤，包括如下：

4.根据权利要求1所述的基于概率模型与光流的烟幕可见光遮蔽面积测量方法，其特征在于：所述步骤s3中，利用光流信息标记图像中的烟幕像素的步骤，包括如下：

5.根据权利要求1所述的基于概率模型与光流的烟幕可见光遮蔽面积测量方法，其特征在于，所述步骤s4中，利用无烟幕遮挡区域像素对烟幕施放时的图像进行均值补偿的步骤，包括如下：

6.根据权利要求1所述的基于概率模型与光流的烟幕可见光遮蔽面积测量方法，其特征在于，所述步骤s5中，均值补偿后，利用拟合的背景像素...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘源，高思莉，于洋，岳娟，郝世菁，李争，
申请(专利权)人：中国科学院上海技术物理研究所，
类型：发明
国别省市：