【技术实现步骤摘要】
本申请涉及芯片领域，尤其涉及一种测试治具、上位机以及测试系统。
技术介绍
1、目前的测试治具都是基于单一类型接口，例如usb接口的适配器电压电流测试功耗测试治具，每次测试不同接口的存储设备电压电流功耗数据，都要人为的焊接线材进行测试，不便于人工测试及测试人员快速上手。
2、即使人为的将电压电流测试设备焊接线材，适应不同接口，但是测试的时候还需要人为输入不同的命令进行不同阶段的电压电流功耗测试，非常不方便，费时费力。
3、因此，如何方便快捷的测试不同接口类型的待测存储装置的实际功耗，成为本领域亟需解决的问题。
技术实现思路
1、本申请的目的是提供一种测试治具、上位机以及测试系统，目的是方便快捷的测试不同接口类型的待测存储装置的功耗，提高测试效率。
2、本申请实施例还公开了一种测试治具，与外部电源连接，所述测试治具用于测试待测存储装置，所述测试治具包括电路板，所述电路板上设置有主控芯片和多个连接器；所述主控芯片的供电输入端与所述外部电源连接，所述主控芯片的供...
【技术保护点】
1.一种测试治具，与外部电源连接，所述测试治具用于测试待测存储装置，其特征在于，所述测试治具包括电路板，所述电路板上设置有主控芯片和多个连接器；所述主控芯片的供电输入端与所述外部电源连接，所述主控芯片的供电输出端与多个所述连接器连接，多个所述连接器用于连接不同协议类型的所述待测存储装置；
2.如权利要求1所述的测试治具，其特征在于，所述主控芯片用于获取所述上位机发出的测试指令并解析成控制信号，并根据所述控制信号对相应的所述连接器输出电流和电压。
3.如权利要求2所述的测试治具，其特征在于，所述主控芯片包括电流检测模块，所述电流检测模块用于监测所...
【技术特征摘要】
1.一种测试治具，与外部电源连接，所述测试治具用于测试待测存储装置，其特征在于，所述测试治具包括电路板，所述电路板上设置有主控芯片和多个连接器；所述主控芯片的供电输入端与所述外部电源连接，所述主控芯片的供电输出端与多个所述连接器连接，多个所述连接器用于连接不同协议类型的所述待测存储装置；
2.如权利要求1所述的测试治具，其特征在于，所述主控芯片用于获取所述上位机发出的测试指令并解析成控制信号，并根据所述控制信号对相应的所述连接器输出电流和电压。
3.如权利要求2所述的测试治具，其特征在于，所述主控芯片包括电流检测模块，所述电流检测模块用于监测所述主控芯片的供电输入端和所述主控芯片的供电输出端之间的电流变化，并将监测数据传递至所述上位机。
4.如权利要求3所述的测试治具，其特征在于，多个所述连接器的接口类型包括2.5寸接口、m.2接口、usb接口以及msata接口。
5.如权利要求4所述的测试治具，其特征在于，每次测试过程中，仅将一种协...
【专利技术属性】
技术研发人员：刘玉，吴坤龙，
申请(专利权)人：深圳市时创意电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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