轨道式断面测流装置的控制方法以及系统制造方法及图纸

技术编号:44933111 阅读:14 留言:0更新日期:2025-04-08 19:15
本发明专利技术公开了一种轨道式断面测流装置的控制方法以及系统,根据各个流量测量区域以及轨道式断面测流装置所在的位置定义各个流量测量区域的待测点,保证了各个流量测量区域的待测点的精准性。进一步地,根据测量路径触发非接触式雷达水位计的移动,在非接触式雷达水位计到达待测点时,基于非接触式雷达水位计采集各个待测点的流速;基于多个流速、非接触式雷达水位计以及水流路径构建多个流速组合,根据多个流速组合的同步检测而定义对应的异常流速,并基于该异常流速、对应的待测点以及非接触式雷达水位计触发对应的优化逻辑,以实现异常流速的在线优化,保证了多个流速的精准性,进而保证了轨道式断面测流装置对流速的测量精准性。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及轨道式断面测流装置的,尤其涉及一种轨道式断面测流装置的控制方法以及系统


技术介绍

1、随着科技的发展,轨道式断面测流装置逐步应用于人们的生活中,并对各个流道进行水深测试,在现有技术中,轨道式断面测流装置沿着流道进行多个待测点进行检测,多个待测点基于以往经验决定的,容易存在一些不合理的待测点,无法实现各个流量测量区域以及轨道式断面测流装置所在的位置的多维度把控,无法保证各个流量测量区域的待测点的精准性。


技术实现思路

1、本专利技术的目的在于克服现有技术的不足,本专利技术提供了一种轨道式断面测流装置的控制方法以及系统,采集水流路径;基于水流路径以及流道布置图构建流道立体模型;基于流道立体模型划分多个流量测量区域;根据各个流量测量区域以及轨道式断面测流装置所在的位置定义各个流量测量区域的待测点,兼容了各个流量测量区域以及轨道式断面测流装置所在的位置的整体考虑,实现了各个流量测量区域以及轨道式断面测流装置所在的位置的多维度把控,保证了各个流量测量区域的待测点的精准性。

>2、进一步地,基于本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种轨道式断面测流装置的控制方法,其特征在于,应用于轨道式断面测流装置的控制场景;

2.根据权利要求1所述的轨道式断面测流装置的控制方法,其特征在于,所述采集水流路径,包括:

3.根据权利要求1所述的轨道式断面测流装置的控制方法,其特征在于,所述基于水流路径以及流道布置图构建流道立体模型,包括:

4.根据权利要求3所述的轨道式断面测流装置的控制方法,其特征在于,所述基于流道立体模型划分多个流量测量区域,包括:

5.根据权利要求4所述的轨道式断面测流装置的控制方法,其特征在于,所述根据各个流量测量区域以及轨道式断面测流装置所在的位置定义各...

【技术特征摘要】

1.一种轨道式断面测流装置的控制方法,其特征在于,应用于轨道式断面测流装置的控制场景;

2.根据权利要求1所述的轨道式断面测流装置的控制方法,其特征在于,所述采集水流路径,包括:

3.根据权利要求1所述的轨道式断面测流装置的控制方法,其特征在于,所述基于水流路径以及流道布置图构建流道立体模型,包括:

4.根据权利要求3所述的轨道式断面测流装置的控制方法,其特征在于,所述基于流道立体模型划分多个流量测量区域,包括:

5.根据权利要求4所述的轨道式断面测流装置的控制方法,其特征在于,所述根据各个流量测量区域以及轨道式断面测流装置所在的位置定义各个流量测量区域的待测点,包括:

6.根据权利要求5所述的轨道式断面测流装置的控制方法,其特征在于,所述基于各个待测点、非接触式雷达水位计的当前位置以及轨道式断面测流装置定义测量路径,根据测量路径触发非接触式雷达水位计的移动,在非接触式雷达水位计到达待测点时,基于非接触式雷达水位计采集各个待测点的流速,包括:

7.根据权利要求6所述的轨道式断面测流装置的...

【专利技术属性】
技术研发人员:姚建福李博刘明强
申请(专利权)人:兰州时昶水工机械有限公司
类型:发明
国别省市:

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