一种双脉冲测试平台优化方法及装置制造方法及图纸

技术编号:44920914 阅读:46 留言:0更新日期:2025-04-08 19:01
本发明专利技术公开了一种双脉冲测试平台优化方法及装置,该方法包括:根据测试回路中各元件的实际结构,建立双脉冲测试平台仿真模型;所述测试回路中的元件包括IGCT、二极管、钳位电容;将杂散电感值作为目标函数,采用PSO算法对所述双脉冲测试平台仿真模型中各元件的空间布局参数进行优化以得到最优的双脉冲测试平台空间布局。本发明专利技术能有效优化平台空间布局,减小回路杂散电感,抑制双脉冲测试过程中IGCT在关断瞬间承受的过电压,解决了双脉冲测试中电压过冲大、器件易损坏的问题。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及测试平台优化,尤其涉及一种双脉冲测试平台优化方法及装置


技术介绍

1、近年来,随着电力电子技术的飞速发展,功率器件在许多应用场景中变得至关重要。集成门级换流晶闸管(igct)因其具有强大的载流能力、高可靠性和低制造成本而被广泛应用于大容量电力电子变换器领域。基于双脉冲测试的动态特性测试能够揭示不同工作条件下器件的开关特性,因此研究双脉冲测试对于深入了解和应用igct至关重要。然而,双脉冲测试中的回路杂散电感在器件关断瞬间会产生感应电压,和母线电压叠加作用于igct产生过电压,从而增加器件承受的电应力和关断损耗,严重时还可能超出器件的安全工作范围,导致器件失效。


技术实现思路

1、针对现有技术中的问题,本专利技术实施例提供一种双脉冲测试平台优化方法及装置,本专利技术能有效优化平台空间布局,减小回路杂散电感,抑制双脉冲测试过程中igct在关断瞬间承受的过电压,解决了双脉冲测试中电压过冲大、器件易损坏的问题。

2、本专利技术实施例提供一种双脉冲测试平台优化方法,包括:

3、根本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种双脉冲测试平台优化方法,其特征在于,包括:

2.如权利要求1所述方法,其特征在于,所述各元件的空间布局参数包括各元件的坐标位置以及连接各元件的母排长度。

3.如权利要求2所述方法,其特征在于,所述各元件的坐标位置为各元件的底面中心位置。

4.如权利要求3所述方法,其特征在于,将目标元件的底部中心位置设为坐标系原点,根据其他元件与目标元件的相对位置得到其他元件的坐标位置。

5.如权利要求4所述方法,其特征在于,所述IGCT与所述二极管通过第一母排连接,所述IGCT与所述钳位电容通过第二母排连接,所述二极管与所述钳位电容通过第三母排连接...

【技术特征摘要】

1.一种双脉冲测试平台优化方法,其特征在于,包括:

2.如权利要求1所述方法,其特征在于,所述各元件的空间布局参数包括各元件的坐标位置以及连接各元件的母排长度。

3.如权利要求2所述方法,其特征在于,所述各元件的坐标位置为各元件的底面中心位置。

4.如权利要求3所述方法,其特征在于,将目标元件的底部中心位置设为坐标系原点,根据其他元件与目标元件的相对位置得到其他元件的坐标位置。

5.如权利要求4所述方法,其特征在于,所述igct与所述二极管通过第一母排连接,所述igct与所述钳位电容通过第二母排连接,所述二极管与所述钳位电容通过第三母排连接。

6.如权利要求5所述方法,其特征在于,所述将杂散电感值作为...

【专利技术属性】
技术研发人员:彭兆伟黄诗洋苏雁飞徐党国李亚美郝震宁琳如卢毅高岩峰黄彬杨敏祥
申请(专利权)人:国网冀北电力有限公司电力科学研究院
类型:发明
国别省市:

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