【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及外观缺陷检测，尤其涉及一种电子元器件外观缺陷检测系统及方法。
技术介绍
1、电子元器件作为构成现代高科技产品的基石，其质量控制显得尤为重要；在电子制造业中，外观检测是确保产品质量的关键环节之一；通过有效的外观检测，不仅能及时发现制造过程中的瑕疵，还能有效避免因质量问题带来的高昂成本；
2、通过外观检测可以及时发现制造过程中的缺陷，可以避免这些元器件在使用过程中出现故障，避免不合格产品流入市场；但是，在现有技术中，采取单一的检测方式进行检测，检测结果存在偶然性的问题，进而导致电子元器件外观缺陷检测精度降低，且不利于电子元器件进行合理化管理，同时降低电子元器件外观缺陷检测效率；
3、针对上述的技术缺陷，现提出一种解决方案。
技术实现思路
1、本专利技术的目的在于提供一种电子元器件外观缺陷检测系统及方法，去解决上述提出的技术缺陷，本专利技术通过初步图像分析了解待检测电子元器件各个面是否存在可疑缺陷，以便进一步对待检测电子元器件的外观进行缺陷检测，而通过信息反...
【技术保护点】
1.一种电子元器件外观缺陷检测系统，其特征在于，包括外观缺陷检测平台、图像识别单元、扫描识别单元、光照核验分析单元、追踪自检单元以及显示反馈单元；
2.根据权利要求1所述的一种电子元器件外观缺陷检测系统，其特征在于，所述图像识别单元的表面初步识别监管反馈分析过程如下：
3.根据权利要求2所述的一种电子元器件外观缺陷检测系统，其特征在于，所述扫描识别单元的表面扫描比对分析过程如下：
4.根据权利要求3所述的一种电子元器件外观缺陷检测系统，其特征在于，获取到标准电子元器件的各个视图通过激光扫描的方式获取到的外观扫描图像，并将标准电子元器...
【技术特征摘要】
1.一种电子元器件外观缺陷检测系统，其特征在于，包括外观缺陷检测平台、图像识别单元、扫描识别单元、光照核验分析单元、追踪自检单元以及显示反馈单元；
2.根据权利要求1所述的一种电子元器件外观缺陷检测系统，其特征在于，所述图像识别单元的表面初步识别监管反馈分析过程如下：
3.根据权利要求2所述的一种电子元器件外观缺陷检测系统，其特征在于，所述扫描识别单元的表面扫描比对分析过程如下：
4.根据权利要求3所述的一种电子元器件外观缺陷检测系统，其特征在于，获取到标准电子元器件的各个视图通过激光扫描的方式获取到的外观扫描图像，并将标准电子元器件的各个视图通过激光扫描的方式获取到的外观扫描图像设定为标准扫描图像，将外观扫描图像与对比扫描图像...
【专利技术属性】
技术研发人员：丁亮，
申请(专利权)人：江苏展鸣驱动科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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