芯片验证方法、装置、电子设备及存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种芯片验证方法、装置及存储介质。该方法包括：预先配置验证框架中的SV语言的基类函数，所述基类函数用于描述验证流程；预先配置验证框架中的C语言程序，所述C语言程序用于执行处理器的硬件计算；通过所述SV语言的基类函数的虚函数获取测试循环次数和验证参数；在每个测试循环次数内，通过虚函数将所述验证参数写入到共享存储区域，通过所述共享存储区域将所述验证参数共享给C语言程序；所述C语言程序根据所述验证参数控制处理器硬件完成验证计算，将计算结果写入到所述共享存储区域。验证工程师能够遵循同一套标准编写测试用例，提高了芯片验证效率。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于芯片，尤其涉及数字半导体ic的系统级芯片soc的系统级验证领域，具体涉及一种芯片验证方法、装置、电子设备及存储介质。

技术介绍

1、随着芯片技术的发展，数字集成电路(integrated circui，ic)领域的系统级芯片(system on chip，soc)得到广泛应用。系统级芯片功能的越来越丰富，系统级芯片的验证越来越复杂。

2、目前在进行系统级芯片的验证时，不同的项目的工程师分别编辑自身项目在系统级芯片中进行验证所需要的验证代码。如何提高系统级芯片中项目的验证效率成为亟待解决的问题。

技术实现思路

1、本专利技术的目的是提供一种芯片验证方法、装置、电子设备及存储介质，能够提高系统级芯片项目的验证效率。

2、根据本专利技术的第一方面，提供了一种芯片验证方法，包括：

3、预先配置验证框架中的sv语言的基类函数，所述基类函数用于描述验证流程；预先配置验证框架中的c语言程序，所述c语言程序用于执行处理器的硬件计算；

4、通过所述sv语言的基类函数本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种芯片验证方法，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，预先配置验证框架中的SV语言的基类函数，包括：

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，预先配置验证框架中的C语言程序，包括：

4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，将验证参数写入到共享存储区域的第二地址区间，包括：

5.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述C语言程序还用于，将执行过程中生成的打印信息存储到共享存储区域的第三地址区间；

6.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，通过所述SV语言的基类函数的虚函数获取测试循环次数和验证参...

【技术特征摘要】

1.一种芯片验证方法，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，预先配置验证框架中的sv语言的基类函数，包括：

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，预先配置验证框架中的c语言程序，包括：

4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，将验证参数写入到共享存储区域的第二地址区间，包括：

5.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述c语言程序还用于，将执行过程中生成的打印信息存储到共享存储区域的第三地址区间；

6.根据权利要...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘焱柏，屈新，张满新，
申请(专利权)人：紫光同芯微电子有限公司，
类型：发明
国别省市：