【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及束流测量领域，具体涉及一种表面缪子束的束流强度测量系统、方法及存储介质。
技术介绍
1、基于高功率质子加速器打靶产生的缪子束流可分为表面缪子束、衰变缪子束和云缪子束，在表面缪子束中，通常存在大量与缪子动量相同的本底正电子，表面缪子束的束流强度和本底正电子含量是评估缪子束性能的关键参数，其不仅反应了束线设备的工作状态，还能够为缪子束终端谱仪的设计提供参考依据。
2、在加速器中，通常采用感应法，如法拉第筒等方法进行束流强度测量工作，这种测量方法要求束流强度较高。然而由于缪子束为次级束，其束流强度相对较弱，因此，缪子束无法采用基于感应方法的束流测量方案。对于弱束的流强测量，常用的技术手段是采用具有较快时间响应的探测器对其信号脉冲进行计数测量，但是脉冲表面缪子束在100纳秒内会有几千个甚至上万个缪子到达探测器，会导致探测器出现堆积的情况，从而无法再对信号脉冲进行计数。
3、因此，在现有技术中，对于脉冲表面缪子束主要采用间接法测量束流强度，该方法通过一个样品停止缪子束并让其衰变产生正电子，并在样品旁边摆放正电...
【技术保护点】
1.一种表面缪子束的束流强度测量系统，其特征在于，包括：
2.如权利要求1所述的表面缪子束的束流强度测量系统，其特征在于，所述第一探测单元包括第一塑料闪烁体和第一光电探测器；所述第一塑料闪烁体与所述第一光电探测器光耦合，所述第一光电探测器用于探测所述第一塑料闪烁体上的束流粒子；
3.如权利要求2所述的表面缪子束的束流强度测量系统，其特征在于，所述表面缪子束中的缪子由于动能损失会停留在所述第一塑料闪烁体，所述第一光电探测器探测出的所述第一塑料闪烁体上的束流粒子包括缪子、本底正电子和米歇尔电子，所述米歇尔电子是由缪子发生衰变产生的，其能够运动至所述
【技术特征摘要】
1.一种表面缪子束的束流强度测量系统，其特征在于，包括：
2.如权利要求1所述的表面缪子束的束流强度测量系统，其特征在于，所述第一探测单元包括第一塑料闪烁体和第一光电探测器；所述第一塑料闪烁体与所述第一光电探测器光耦合，所述第一光电探测器用于探测所述第一塑料闪烁体上的束流粒子；
3.如权利要求2所述的表面缪子束的束流强度测量系统，其特征在于，所述表面缪子束中的缪子由于动能损失会停留在所述第一塑料闪烁体，所述第一光电探测器探测出的所述第一塑料闪烁体上的束流粒子包括缪子、本底正电子和米歇尔电子，所述米歇尔电子是由缪子发生衰变产生的，其能够运动至所述第二塑料闪烁体；
4.如权利要求3所述的表面缪子束的束流强度测量系统，其特征在于，所述处理单元具体用于：
5.如权利要求4所述的表面...
【专利技术属性】
技术研发人员：吕游，鲍煜，樊瑞睿，郭宇航，
申请(专利权)人：散裂中子源科学中心，
类型：发明
国别省市：
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