一种非金属内部缺陷的实时监测方法及装置制造方法及图纸

技术编号:44819959 阅读:13 留言:0更新日期:2025-03-28 20:09
本说明书实施例涉及物联网监测、微波技术领域,提供了一种非金属内部缺陷的实时监测方法及装置,其方法包括:将待测物固定在支架上,探头放置在待测物下方的自动化移动平台上,调整待测物的姿态,使其与探头保持平行;通过自动化平台控制探头移动,记录移动单位步长后的反射参数信息,不断重复直到待测物移出探头区域;定义反射系数差值的绝对值来定位缺陷,将每个位置对应的反射系数谐振频率幅值减去初始位置反射系数谐振频率的幅值,然后取绝对值;将采集到的数据通过程序实时处理,将结果接入物联网实现实时监测。本申请技术方案能够实现检测深度为5mm以内,缺陷半径大于5mm的内部缺陷,同时结合自动化移动平台,实现实时监测。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及物联网监测、微波,尤其涉及一种非金属内部缺陷的实时监测方法及装置


技术介绍

1、谐振结构电场强度很高,具有很高的灵敏度,但是电场集中在探头表面,只能检测表面缺陷。传统的波导或者天线具有一定的穿透深度,但是电场分布不够集中,灵敏度较低。

2、为此,专利技术一款能够用于检测非金属内部缺陷的探头,基于探头和数据采集处理程序设计一种实时监测非金属内部缺陷的装置,同时能够实时监测物体的完整性并且具有较大的检测深度和较高的灵敏度的装置,是本领域技术人员亟待解决的技术问题。


技术实现思路

1、本专利技术的目的旨在提供一款用于检测非金属内部缺陷的探头,基于探头和数据采集处理程序设计一种实时监测非金属内部缺陷的装置,该装置可实时监测物体的完整性并且具有较大的检测深度和较高的灵敏度。为此,本申请所采用的技术方案如下:

2、第一方面,本申请实施例提供一种非金属内部缺陷的实时监测方法,所述方法包括:

3、将待测物固定在支架上,探头放置在待测物下方的自动化移动平台上,调整待测物的姿态,使本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种非金属内部缺陷的实时监测方法,其特征在于,包括以下步骤:

2.根据权利要求1所述的非金属内部缺陷的实时监测方法,其特征在于,所述探头移动的单位步长为1mm。

3.根据权利要求1所述的非金属内部缺陷的实时监测方法,其特征在于,所述反射系数差值的绝对值ΔS的计算公式为ΔS=|Si-S0|,其中Si为当前位置的反射系数谐振频率幅值,S0为初始位置的反射系数谐振频率幅值。

4.根据权利要求1所述的非金属内部缺陷的实时监测方法,其特征在于,所述探头为微波探头,所述反射参数信息为微波的反射参数信息。

5.根据权利要求1所述的非金属内部缺陷的实时...

【技术特征摘要】

1.一种非金属内部缺陷的实时监测方法,其特征在于,包括以下步骤:

2.根据权利要求1所述的非金属内部缺陷的实时监测方法,其特征在于,所述探头移动的单位步长为1mm。

3.根据权利要求1所述的非金属内部缺陷的实时监测方法,其特征在于,所述反射系数差值的绝对值δs的计算公式为δs=|si-s0|,其中si为当前位置的反射系数谐振频率幅值,s0为初始位置的反射系数谐振频率幅值。

4.根据权利要求1所述的非金属内部缺陷的实时监测方法,其特征在于,所述探头为微波探头,所述反射参数信息为微波的反射参数信息。

5.根据权利要求1所述的非金属内部缺陷的实时监测方法,其特征在于,所述自动化移动平台包括x轴和y轴的移动机构,所述探头沿x轴和y轴方向移动以覆盖待测物的整个检测区域。

6.一种非...

【专利技术属性】
技术研发人员:李伟泽
申请(专利权)人:中信银行股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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