【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种加工产品后提高同心度探测频率的检具，属于检具。
技术介绍
1、分工序加工夹具采用上下浮动的方式定位基准内圆后，再加工另一端的被测凸台圆，二次装夹间隙、定位配合间隙、基准定位圆的尺寸波动，都会带来同轴度尺寸的波动，使工件在二次装夹间隙同心度难以得到有效保证，增加了产品的废品率，同时也会影响产品质量检测结果。
技术实现思路
1、针对上述存在的技术问题，本专利技术的目的是：提出了一种加工产品后提高同心度探测频率的检具。
2、本专利技术的技术解决方案是这样实现的：一种加工产品后提高同心度探测频率的检具，包含底座以及设置在底座上的定位机构和检测机构；
3、所述定位机构包含定位基板、可调节轴承和两个固定轴承，所述定位基板用于承载工件，定位基板倾斜设置在底座上，且定位基板与底座之间的夹角为45度；所述可调节轴承滑动设置在定位基板上，两个所述固定轴承均固定设置在定位基板上，两个固定轴承与可调节轴承的排布呈等腰三角形；所述可调节轴承和两个固定轴承均伸入所述工件内，且...
【技术保护点】
1.一种加工产品后提高同心度探测频率的检具，其特征在于：包含底座(1)以及设置在底座(1)上的定位机构和检测机构；
2.根据权利要求1所述的一种加工产品后提高同心度探测频率的检具，其特征在于：所述定位基板(2)上开设有通槽结构(21)，定位基板(2)的底面上固定设置有支撑板(22)，所述通槽结构(21)内设置有与所述支撑板(22)滑动配合的滑动板(23)；所述可调节轴承(3)上设置有固定块(32)，可调节轴承(3)依次穿过滑动板(23)和支撑板(22)并向下延伸，且可调节轴承(3)上的固定块(32)固定在所述滑动板(23)的顶面上，可调节轴承(3)通过滑动...
【技术特征摘要】
1.一种加工产品后提高同心度探测频率的检具，其特征在于：包含底座(1)以及设置在底座(1)上的定位机构和检测机构；
2.根据权利要求1所述的一种加工产品后提高同心度探测频率的检具，其特征在于：所述定位基板(2)上开设有通槽结构(21)，定位基板(2)的底面上固定设置有支撑板(22)，所述通槽结构(21)内设置有与所述支撑板(22)滑动配合的滑动板(23)；所述可调节轴承(3)上设置有固定块(32)，可调节轴承(3)依次穿过滑动板(23)和支撑板(22)并向下延伸，且可调节轴承(3)上的固定块(32)固定在所述滑动板(23)的顶面上，可调节轴承(3)通过滑动板(23)与支撑板(22)滑动配合。
3.根据权利要求2所述的一种加工产品后提高同心度探测频率的检具，其特征在于：所述滑动板(23)的前端设置有多个导向杆(231)，多个所述导向杆(231)上均套设有弹性件(2311)，位于所述通槽结构(21)内的定位基板(2)上开设有多个伸缩槽(24)；所述弹性件(2311)的一端与所述滑动板(23)相抵，另一端伸入所述伸缩槽(24)中，并与伸缩槽(24)配合。
4.根据权利要求3所述的一种加工产品后提高同心度探测频率的检具，其特征在于：所述定位基板(2)的底部设置有用于驱动所述可调节轴承(3)滑动的驱动组件，所述驱动组件包括驱动座(25)、驱动棒(26)和第一锁定旋钮(27)；所述驱动座(25)上开设有活动槽(251)，所述驱动棒(26)的中部铰接在活动槽(251)的中心处，驱动棒(26)的一端为驱动端(261)，另一端...
【专利技术属性】
技术研发人员：李文杰，
申请(专利权)人：苏州市艺达精工有限公司，
类型：发明
国别省市：
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