【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及半导体制造,尤其涉及用于晶圆设备视觉定位的系统、方法及装置。
技术介绍
1、随着科学技术的发展,半导体产品受到的关注度越来越大,半导体产品制造的自动化程度也越来越高,包括:清洗设备 、双面研磨抛光设备(double side polishing,dsp)、刻蚀设备、沉积设备等等。半导体晶圆是指硅半导体集成电路制作所用的衬底硅晶片,由于其形状为圆形,故称为晶圆。在半导体制造中,晶圆生产是核心环节之一,其质量直接决定了最终产品的性能与可靠性。
2、在晶圆的生产过程中,dsp需要对晶圆进行抛光,在抛光过程中,需要对行星轮(carrie)上晶圆(wafer)放置孔(hotel)进行定位。目前,需将视觉相机移动于上盘和下盘之间,进行视觉拍照后,根据拍照信息进行定位。一般,dsp的carrie上有三个hotel,由于dsp是垂直升降式结构,开盖后上盘和下盘之间的高度很低,视觉相机的视野无法覆盖carrier的3个晶圆承载位置放置孔hotel,需对相机进行多次移动后拍摄,从而分别确定三个晶圆的放置点坐标,这样晶圆定位效率比较
...【技术保护点】
1.一种用于晶圆设备视觉定位的系统,其特征在于,包括:晶圆夹持机械手臂、位于防水罩之中的视觉相机、控制装置,其中,
2.如权利要求1所述的系统,其特征在于,
3.如权利要求1所述的系统,其特征在于,
4.如权利要求3所述的系统,其特征在于,还包括:
5.如权利要求1-4任一项所述的系统,其特征在于,
6.如权利要求5所述的系统,其特征在于,
7.一种用于晶圆设备视觉定位的方法,其特征在于,晶圆夹持机械手臂和内置视觉相机的防水罩组合在一起,形成组合机械手臂,该方法包括:
8.如权利要求7
...【技术特征摘要】
1.一种用于晶圆设备视觉定位的系统,其特征在于,包括:晶圆夹持机械手臂、位于防水罩之中的视觉相机、控制装置,其中,
2.如权利要求1所述的系统,其特征在于,
3.如权利要求1所述的系统,其特征在于,
4.如权利要求3所述的系统,其特征在于,还包括:
5.如权利要求1-4任一项所述的系统,其特征在于,
6.如权利要求5所述的系统,其特征在于,
7.一种用于晶圆设备视觉定位的方法,其特征在于,晶圆夹持...
【专利技术属性】
技术研发人员:关仁杰,张永涛,杨朔,葛成重,赵海荣,
申请(专利权)人:北京日扬弘创智能装备有限公司,
类型:发明
国别省市:
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