用于测试被测设备、分离与被测设备的不同功能块相关联的或与一个或多个位的不同块相关联的所接收模式内的错误的装置、方法和计算机程序制造方法及图纸

用于测试被测设备的测试装置(100；200；300；500)被配置为接收来自被测设备(102；202；302)的模式，模式包括来自被测设备的多个功能块的信息。测试装置被配置为在执行测试程序期间分离与被测设备的不同功能块相关联的接收模式内的错误，或测试装置被配置为在执行测试程序期间分离与一个或多个位的不同块相关联的接收模式内的错误。还描述了一种方法和计算机程序。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】

根据本专利技术的实施例涉及一种用于测试被测设备的测试装置。根据本专利技术的进一步实施例涉及一种用于测试被测设备的方法。进一步的实施例与每个核心处理器的结果相关。

技术介绍

1、测试是电子电路(如集成电路)生产中的一个重要步骤。然而，电子电路(如集成电路)的复杂性不断增加，构成了一项重大挑战。

2、因此，为了提高扫描和功能测试的可用带宽的最佳利用率，eda软件和测试设计领域的参与者开始研究在通过测试接口向被测设备(dut，device under test)发送测试模式时，对于不同核心将测试模式进行交织的方法，而不是向目标ip核心逐个发送纯(例如单核)模式(单独核心)。

3、这里的“核心”表示逻辑设计的基本单元(在本申请的上下文中)，在测试中应单独对其进行分析(例如测试的单元，测试结果的粒度)。例如，核心可以被认为是被测设备的功能块。

4、鉴于这种情况，需要一种概念，在不同核心的测试模式交织的情况下，在复杂性、测试覆盖率和测试时间之间可以很好地进行折衷。

技术实现思路

1、根本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种用于测试被测设备的测试装置(100；200；300；500)，

2.根据权利要求1所述的测试装置(100；200；300；500)，

3.根据权利要求1或2所述的测试装置(100；200；300；500)，

4.根据权利要求1至3中任何一项所述的测试装置(100；200；300；500)，

5.根据权利要求1至4中任何一项所述的测试装置(100；200；300；500)，

6.根据权利要求1至5中任何一项所述的测试装置(100；200；300；500)，

7.根据权利要求1至6中任何一项所述的测试装置(100...

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】

1.一种用于测试被测设备的测试装置(100；200；300；500)，

2.根据权利要求1所述的测试装置(100；200；300；500)，

3.根据权利要求1或2所述的测试装置(100；200；300；500)，

4.根据权利要求1至3中任何一项所述的测试装置(100；200；300；500)，

5.根据权利要求1至4中任何一项所述的测试装置(100；200；300；500)，

6.根据权利要求1至5中任何一项所述的测试装置(100；200；300；500)，

7.根据权利要求1至6中任何一项所述的测试装置(100；200；300；500)，

8.根据权利要求1至7中任何一项所述的测试装置(100；200；300；500)，

9.根据权利要求1至8中任何一项所述的测试装置(100；200；300；500)，

10.根据权利要求1至9中任何一项所述的测试装置(100；200；300；500)，

11.根据权利要求10所述的测试装置(100；200；300；500)，

12.根据权利要求10或权利要求11所述的测试装置(100；200；300；500)，

13.根据权利要求1至12中任何一项所述的测试装置(100；200；300；500)，

14.根据权利要求13所述的测试装置(100；200；300；500)，

15.根据权利要求1至14中任何一项所述的测试装置(100；200；300；500)，

16.根据权利要求1至15中任何一项所述的测试装置(100；200；300；500)，

17.根据权利要求1至16中任何一项所述的测试装置(100；200；300；500)，

18.根据权利要求1至17中任何一项所述的测试装置(100；200；300；500)，

19.根据权利要求1至18中任何一项所述的测试装置(100；200；300；500)，...

【专利技术属性】
技术研发人员：迈克尔·布劳恩，克劳斯·韦尔奇，弗兰克·亨塞尔，尼科·穆勒，阿恩特·杰拉赫，乌尔里克·诺赫，
申请(专利权)人：爱德万测试集团，
类型：发明
国别省市：